纳米粒度与zeta电位仪
只需按下按钮即可进行颗粒分析Litesizer™ 100 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射(DLS)来测定颗粒尺寸。Litesizer™ 100 的一大亮点是其简单而巧妙的软件。我们已创建了可将输入参数、结果和分析集中到单个页面上的一页式工作流程：您可以在数秒内完成试验设置，只需简单按键即可得出所需的分析结果和报告......
在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中zei微小的变化。Zeta电位：范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV等电点：再现性：+/-0.1 pH平板固体：zei小 35 mm x 15 mm，厚度......
仪器简介： 仪器名称：ZETA电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材......
一、产品简介 BeNano 系列纳米粒度电位仪是丹东百特仪器有限公司全新开发的测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等等参数，可广泛的应用......
在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中zei微小的变化。Zeta电位：范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV等电点：再现性：+/-0.1 pH平板固体：zei小 35 mm x 15 mm，厚度......
zeta 电位测量——新型尖端技术Litesizer™ 500 采用新型专利（欧洲专利 2 735 870）PALS 技术 cmPALS，可实现更短的测量时间以及更低的施加电场。结果：敏感样品可在劣化较轻的情况下进行测量。Zeta 电位试管具有独特的 Ω 形毛细管。这种形状意味着电泳光散射 (ELS) 测量可不受测量位置影响，且具有高稳定性和可重复性。&nb......
纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分......
Amerigo原位纳米粒度和zeta电位分析仪基于最新技术的动态光散射（DLS）和激光多普勒电泳（LDE）技术，可提供高分辨率，准确和快速的粒度和zeta电位测试。技术优势结合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨测量能力非接触远程测量纳米粒度的动力学分析zeta电位的可编程动力学实验（zeta 对 ......
德国Colloid Metrix公司是一家专业研发和制造表征交替特征的仪器公司。在胶体配方分析方面， CMX公司的Stabino，Zeta-check和Nano-Flex为用户提供了全新的流动/Zeta电位和粒度的测量方法，同时Stabino配合Nano-Flex还提供多种滴定功能，可以实现不同PH值, 不同浓度的盐溶液以及聚电解质的溶液体系中颗粒的大小和Z......
仪器简介：可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。根据不同的测量原理，有电泳法，电声法Zeta电位，以及STABINO测试所得的流动电位。这些是经常被提到的电位参数......