麦奇克纳米粒度及zeta电位仪
zeta 电位测量——新型尖端技术Litesizer™ 500 采用新型专利（欧洲专利 2 735 870）PALS 技术 cmPALS，可实现更短的测量时间以及更低的施加电场。结果：敏感样品可在劣化较轻的情况下进行测量。Zeta 电位试管具有独特的 Ω 形毛细管。这种形状意味着电泳光散射 (ELS) 测量可不受测量位置影响，且具有高稳定性和可重复性。&nb......
纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac MRB一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器 UPA（UltrafineParticle Analyzer......
产品参数粒度分析范围0.3nm-10µm重现性误差≤1%浓度范围100ppb-40%w/v检测角度180°样品体积依赖于客户的样品杯兼容性水相和有机相纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac MRB一直致......
纳米粒径分析仪 NANOTRAC FLEX有史以来最灵活的动态光散射分析仪独特的外部探头设计原位粒度测量和监测180° 反向散射 DLS 设置将任何容器变成样品池 - 无需消耗品外部探头允许倾斜和测量通用溶剂兼容性小光斑频率功率谱计算模型代替PCS激光放大检测——高信噪比纳米粒径分析仪 NANOTRAC FLEX灵活的原位测量NANOTRAC FLEX 探头......
纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分......
软件系统：先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定......
产品参数粒度分析范围0.3nm-10µm重现性误差≤1%浓度范围100ppb-40%w/v检测角度180°分析时间30-120秒准确性全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子测量精度无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果理论设计温度0-90℃，可以进行程序升温或降温兼容性水相和有机相纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Micro......
纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分......
测量原理：粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率分子量测量：水力直径或德拜曲线光学系统：3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路软件系统：先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，......
仪器简介：可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。根据不同的测量原理，有电泳法，电声法Zeta电位，以及STABINO测试所得的流动电位。这些是经常被提到的电位参数......