tem 台阶仪
Alpha-Step D-500 Stylus Profiler Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述Alpha-Step D-50......
Alpha-Step D-600 Stylus Profiler Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述......
KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中。集成探测器考究的设计，不仅使性能得到提升，便于安装，还可通过几乎任何计算机借助以太网轻松实现远程访问。EDAX 的 TEAM™ EDS 系统配备了用于透射电子显微镜......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在......
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Polymer Materials，适用于Polymer Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于生物质材料行业领域。 聚合物添加剂分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与......
牛津仪器EDSX-Max TEM参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Construction Materials的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Construction Materials项目。 机械及电学性能 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获......
牛津仪器EDSX-Max TEM可以用在生物质材料行业领域，用来检测Microstructure and Mechanical Properties，可完成Microstructure and Mechanical Properties项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 添加剂生产 X-MaxN 80T用于TEM 的X-M......