dektakxt 台阶仪 表面粗糙 分析

Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计创新,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性<5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量,在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触......

技术指标划痕深度精细量程zei大量程zei大位移 [μm]1001000位移分辨率 [nm]0.050.5本底噪音 [rms] [nm]*1.5      法向载荷精细量程zei大量程zei大载荷 [N]1030载荷分辨率 [mN]0.010.03本底噪音 [rms] [μN]*100摩擦力精细量程......

德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代Dek......

主要特点专利同步全景成像模式此种 功能为安东帕划痕测试仪所独有。它可以自动将所有传感器信号和全景成像的划痕图像实现完全同步。通过这种方式,可以在与界面上的划痕图片完全对应的情况下离线分析测量数据。安东帕拥有同步全景成像模式方面的专利 US 12/324、237 以及 EP 2065695。曲面和粗糙表面 的测量由于其采用了独特的载荷传感器控制技术,Revet......

即使在曲面和粗糙表面也可进行测试由于采用了独特的力传感器控制技术,微米划痕系统可检测载荷偏差,并且通过主动力反馈系统来修正该偏差。微米划痕系统即使在粗糙表面和曲面上也可获得可靠的测量。全景成像模式:将所有传感器进行同步,轻松快速地分析涂层结合力和耐划伤性能安东帕持有美国专利 8261600 和欧洲专利 2065695。全景模式是划痕仪软件最重要的特征。划痕后......

高精度的位移和载荷可进行精确的微米压痕测量两个独立的传感器:一个用于载荷,一个用于位移,来进行准确的计量测量高框架刚度:2 x 108 N/m,更高的位移准确度仪器化压入测试 (IIT) 用于测量硬度和弹性模量位移-仪器化压痕:持续测量与施加的载荷和相关的位移,获得材料硬度和弹性模量一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕从小位移(几纳米)到大位移(......

KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。    探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......

布鲁克台阶仪DEKTAKXT

参考成交价格: 35万元[人民币]

布鲁克 晶圆检测设备

型号:DEKTAK XT

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产品描述德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。......

德国布鲁克+DektakXT+台阶仪

参考成交价格: 28万元[人民币]

布鲁克 台阶仪

型号: DektakXT

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探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能     德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够......

布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5?。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代De......