SEM 赛默飞
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会......
点击查看下载赛默飞Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 锂离子电池性能优良，已经广泛应用于小型电子产品中，在电动汽车和混合电动汽车领域以及储能领域也在不断发展中，这对保持环 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cr......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloa......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIB赛默飞FIB-SEM 应用于地矿/有色金属相关资料，进一步了解产品。 第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可......
点击查看下载赛默飞 SEM扫描电子显微镜Prisma E 其他资料相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（EDS）结合使......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
点击查看下载（原FEI) 赛默飞Verios XHR SEM 金属行业微观分析解决方案相关资料，进一步了解产品。 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不......
QuattroSEM扫描电子显微镜拥有独特的环境真空功能，是一款具有极高灵活性和多功能高分辨率的扫描电镜。它可以结合成像和分析全面性能与环境模式（ESEM），使得样品研究得以在自然状态下进行。Quattro的场发射扫描电子显微镜电子枪（FEG）保证了优异的分辨率，并且通过不同的探测器选项，可以调节不同的衬度信息，包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。从多个......
ThermoScientific™OrbitrapExploris™GC气质联用仪能够超越日常检测需求，不仅可以简化操作，还可以始终提供准确结果。此外，该系统采用全新分析流程，紧跟不断变化的分析需求，最大限度地延长了系统正常运行时间并扩展了实验室分析能力。• 强大的生产力OrbitrapExplorisGC 气质联用仪采用紧凑型设计，提供......