纳米材料和zeta电位分析

安东帕激光粒度仪Litesizer 500用于测定其他,符合行业标准暂无。适用其他项目。 注射用脂肪乳被用于吸收体外营养和作为亲脂性药物的载体。它们是典型的水包油乳液,在乳化剂的帮助下水相中分散脂肪液滴。对这些配方,乳化液稳定性是最大的挑战参数。如果乳化液不稳定,絮凝,乳油化(即油滴转移到乳液表面),聚合或破坏有可能发生。 zeta 电位测量——新型尖端技术......

点击查看下载Zeta电位安东帕固体表面 Zeta 电位分析仪 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 表面力学特性分析 在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中zei微小的变化。Zeta电位:范围:所用测量原理决......

点击查看下载SurPASS 3Zeta电位安东帕 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 DLS和SAXS是高度互补的颗粒分析技术,能够分别表征颗粒的粒径分布及颗粒形状、核-壳结构等信息。此外,可以通过ELS技术测量颗粒的表面电荷,从而得到有关胶体稳定性的有关数据。此报告通过表征用于静脉治疗的不同铁—碳复合物,突出了这三种技术的互补性。 在表面分析中,固体......

点击查看下载Zeta电位SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪 应用于高分子材料相关资料,进一步了解产品。 Zeta电位对玻璃纤维表面用不同上浆体系修饰后的表面化学变化很敏感。 Zeta电位:范围:所用测量原理决定没有限制再现性:+/-0.5 mV等电点:再现性:+/-0.1 pH平板固体:zei小 35 mm x 15 mm,厚度<20 m......

点击查看下载 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer 500安东帕 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 DLS和SAXS是高度互补的颗粒分析技术,能够分别表征颗粒的粒径分布及颗粒形状、核-壳结构等信息。此外,可以通过ELS技术测量颗粒的表面电荷,从而得到有关胶体稳定性的有关数据。此报告通过表征用于静脉治疗的不同铁—碳复合物,突出了这三种技术的......

点击查看下载固体表面 Zeta 电位分析仪SurPASS 3Zeta电位 应用于高分子材料相关资料,进一步了解产品。 Zeta电位对玻璃纤维表面用不同上浆体系修饰后的表面化学变化很敏感。 等电点:再现性:+/-0.1 pH平板固体:zei小 35 mm x 15 mm,厚度<20 mm,20 mm x 10 mm,厚度<2 mm,直径为 14 m......

点击查看下载Zeta电位SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪 高岭土zeta电位测量相关资料,进一步了解产品。 粘土矿物作为填充材料应用在各行各业。这些铝层状硅酸盐的复杂结构引起了关于它们在水环境中带电行为的争论。因此,我们系统地评估了高岭土分散体的zeta 电位。 在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电......

贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C用于测定悬浮颗粒,符合行业标准颗粒学报 6(2008)112-115。适用悬浮颗粒的zeta 电位项目。 【摘要】各种纳米颗粒的表征正处于纳米技术发展的中央舞台上。纳米颗粒表征的目标集中在粒度和粒子表面电荷的测定上。本文概述了使用动态光散射进行粒度分析以及使用电泳光散射对浓缩悬浮液中纳米或者甚至亚纳米颗粒 子的表......

贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C参考多项行业标准颗粒学报 6(2008)112-115。完成悬浮颗粒的检测。可以用在高分子材料行业领域中的悬浮颗粒的zeta 电位项目。 【摘要】各种纳米颗粒的表征正处于纳米技术发展的中央舞台上。纳米颗粒表征的目标集中在粒度和粒子表面电荷的测定上。本文概述了使用动态光散射进行粒度分析以及使用电泳光散射对浓缩悬浮液......

点击查看下载Zeta电位DelsaNano C薄膜分布分析仪 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C/Solid Surface,是全球第一台应用电泳光散射原理,通过测量探测粒子在电场中的运动特征而求得固体(或薄膜)与液体之介面Zeta电位的分析仪。该仪器的上市为固液介面特......