纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer 500安东帕 应用于纳米材料

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DLS和SAXS是高度互补的颗粒分析技术，能够分别表征颗粒的粒径分布及颗粒形状、核-壳结构等信息。此外，可以通过ELS技术测量颗粒的表面电荷，从而得到有关胶体稳定性的有关数据。此报告通过表征用于静脉治疗的不同铁—碳复合物，突出了这三种技术的互补性。

一页式工作流程

输入参数、测量结果和分析数据——所有内容都集中在一个页面上。

只需按下按钮即可进行颗粒分析

Litesizer™ 500 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射 (DLS)、电泳光散射 (ELS) 和静态光散射 (SLS) 来测定颗粒尺寸、zeta 电位和分子量。

此外，Litesizer™ 500 是唯一一款基于 DLS 的颗粒分析仪可以对样品的折光率进行简洁明了的测量。

Litesizer™ 500 的一个亮点是其设计巧妙的简单软件。我们已创建了可将输入参数、结果和分析集中到单个页面上的一页式工作流程：您可以在数秒内完成试验设置，只需简单按键即可得出所需的分析结果和报告。

主要特点：

可自动测量连续的透光率

通过透光率，您可以立即获得样品反馈并自动优化测量参数（角度、聚焦位置和测量持续时间）。

精确确定折光率

虽然对于大部分颗粒分析仪而言，这些指数必须通过外部来源来确定，但 Litesizer™ 500 能够测量您的试验的精确波长和温度的折光率。这确保在所有试验条件下，获得最高精确度的颗粒大小和 zeta 电位。

Litesizer™ 500 确定的溶剂折光率的误差在 ±0.5 % 之内，符合 ISO 22412:2017 规定的 DLS 所需折光率精度。 

颗粒尺寸测量：前所未有的分辨率

由于固件采用了非常先进的算法，因此可以精确测量单一悬浮液中几种不同的颗粒尺寸。

cmPALS – 新获专利的 zeta 电位技术

凭借 cmPALS（欧洲专利 2 735 870）技术，在相当短的测量时间内以及更低的应用电场下即可进行测量，从而对极其敏感的样品进行可靠测量。

独特的 Ω 形 zeta 电位毛细管

由于zeta电位样品池具有独特的 Ω 形毛细管，因此测量结果更为稳定且更可再现。

简单智能的软件 - Kalliope™

Kalliope™ 提供一页式工作流，输入参数、测量和分析唾手可得。Kalliope™ 完全符合 FDA 的 21 CFR Part 11 法规要求。

zeta 电位测量——新型尖端技术

Litesizer™ 500 采用新型专利（欧洲专利 2 735 870）PALS 技术 cmPALS，可实现更短的测量时间以及更低的施加电场。结果：敏感样品可在劣化较轻的情况下进行测量。

Zeta 电位试管具有独特的 Ω 形毛细管。这种形状意味着电泳光散射 (ELS) 测量可不受测量位置影响，且具有高稳定性和可重复性。

颗粒尺寸测量：前所未有的分辨率

由于固件采用了非常先进的算法，因此可以精确测量单一悬浮液中几种不同的颗粒尺寸。

可自动测量连续的透射比

Litesizer™ 500 可连续测量每一份样品的透射比，从而可以迅速确定样品是否适合进行光散射测量。可通过 Litesizer™ 500 为测量选择zei佳参数（测量角度、焦点位置和测量持续时间）。

减轻您实验室负担的工具：

通过时间、温度、pH 值、浓度来监测颗粒

通过系列测量来显示颗粒尺寸及 zeta 电位如何随时间、温度、pH 值或浓度变化。测量结果以不同颜色清楚显示在单一图形上，以确定图形趋势，同时所有重要值和参数在图形下方按逻辑关系列表。

Litesizer™ 500——只需按下按钮即可进行颗粒分析

Litesizer™ 500 可为您优化试验：完成样品准备后，Litesizer™ 500 可自动调整衰减，选择zei佳焦点位置、测量角度以及测量持续时间。您只需选择溶剂、点击启动并观察出现的测量结果即可。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途