kt 台阶仪

P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7......

Alpha-Step D-500 Stylus Profiler  Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述Alpha-Step D-50......

P-17 Stylus Profiler  P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。产品描述P-17是第八代台式探针轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。该系统业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其......

P-170 Stylus Profiler  P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性......

Alpha-Step D-600 台阶仪

参考成交价格: 暂无

科磊半导体 台阶仪

型号: Alpha-Step D-600

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Alpha-Step D-600 Stylus Profiler    Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述......

BINDER KT系列低温培养箱在拥有无与伦比的性能同时实现高效环保,其紧凑的设计大大提高了空间利用率。将令人信服的出色性能与令人印象深刻的能效和环保完美结合。其设计符合各类应用需求且可提供稳定柔和的培养环境。性能特点:温度范围:4℃~100℃半导体制冷技术可调节风扇速度带分段编程功能且显示时间的控制器由安全玻璃制成的内门通过按钮旋钮进行参数输入及调整LCD......

BINDER KT系列低温培养箱在拥有无与伦比的性能同时实现高效环保,其紧凑的设计大大提高了空间利用率。将令人信服的出色性能与令人印象深刻的能效和环保完美结合。其设计符合各类应用需求且可提供稳定柔和的培养环境。性能特点:温度范围:4℃~100℃半导体制冷技术可调节风扇速度带分段编程功能且显示时间的控制器由安全玻璃制成的内门通过按钮旋钮进行参数输入及调整LCD......

BINDER KT系列低温培养箱在拥有无与伦比的性能同时实现高效环保,其紧凑的设计大大提高了空间利用率。将令人信服的出色性能与令人印象深刻的能效和环保完美结合。其设计符合各类应用需求且可提供稳定柔和的培养环境。性能特点:温度范围:4℃~100℃半导体制冷技术可调节风扇速度带分段编程功能且显示时间的控制器由安全玻璃制成的内门通过按钮旋钮进行参数输入及调整LCD......

KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。    探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......

台阶仪

参考成交价格: 暂无

阿尔派 台阶仪

型号:Nanomap-LS

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台阶仪,       NanoMap-LS 接触式三维表面台阶仪NanoMap-LS NanoMap -LS探针接触式 台阶仪 特点 探针台阶仪是利用探针扫描样品表面,仪器记录探针随样品表面高低起伏状态,整合数据得到台阶高度,表面形貌,沟槽深度等特征。 &nb......