二次离子质谱仪一次离子束样品
离子光学系统- 主动离子管控（Active Ion Management, AIM）四极杆设计 -- HyperQuad四极杆Ion Max NG 离子源电动离子漏斗技术带中性离子的离子束传输组件 &n......
安捷伦Agilent 电感耦合等离子体质谱仪7900可用于测定气体和液化气体样品，适用于挥发砷化合物项目。并且参考多项行业标准。可应用于化工试剂/助剂行业领域。 在本研究中，采用了一种新型 GC-ICP-MS 方法，一次测量即可进行砷的形态分析和总砷测定。实验证明，该方法还可同时测定气体中其他元素（例如 Hg）的总元素浓度和各形态浓度。 产品特性：● ......
主要附件气体注入系统 (IB-02100GIS2)碳沉积圆筒 (IB-52110CDC2)钨沉积圆筒(IB-52120WDC2)白金沉积圆筒 (IB-52130WDC2)侧插式测角样品台 (IB-01040SEG)束流探测器 (IB-04010PCD)操作面板(IB-05010OP)样品台导航系统 (IB-01200SNS)FIB Tip-on(尖端上可以安......
产品特点：为了满足市场多样化的需求，IB-19530CP截面抛光仪采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座，不仅能截面刻蚀，还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。◇ 设置简单 功能性样品座采用模块化设计，在光学显微镜（另售）下也能调整加工位置。◇ 多用途样品台......
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪
参考成交价格： 100~200万元[人民币]
型号：Leica EM TIC 3X
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 如今，离子束蚀刻技术是应用最广泛的电子显微镜样品制备方 法。在蚀刻过程中，高能氩离子束轰击样品，并根据其应用领域 调整 离子束能量和切割角度。 在制备扫描电子显微......
产品简介：飞行时间二次离子质谱仪是一种非常灵敏的表面分析技术，可以揭示表面及近表面原子层的化学组成、分析材料单层表面信息、可检测所有元素、识别有机物的结构等，可用于各种材料的高灵敏度表面分析和深度剖析。 SurfaceSeer -S是一种结构紧凑且价格合理的TOF-SIMS，用于快速检测表面化学特性。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于产品研......
产品简介：飞行时间二次离子质谱仪是一种非常灵敏的表面分析技术，可以揭示表面及近表面原子层的化学组成、分析材料单层表面信息、可检测所有元素、识别有机物的结构等，可用于各种材料的高灵敏度表面分析和深度剖析。SurfaceSeer I是一种高灵敏度的飞行时间二次离子质谱仪，用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I是表面化学研究、研发与......
安捷伦提供一系列盲法质量控制标准品，用于检验您的分析系统是否处于受控状态。 这些质量控制样品旨在模拟特定 EPA 方法的实际样品，并作为盲样运行。然后将使用该方法生成的分析数据与安捷伦标准品提供的真实值进行比较。如果用作盲样的质量控制标准品所生成的数据与标准品的真实值一致，则表明您的分析系统处于受控状态。 ......
CleanMill Broad Ion Beam SystemHigh-quality observation and characterization of materials often require an artifact-free surface, which can be difficult to achieve with traditional......
fibTOF 将聚焦离子束二次离子质谱（FIB-SIMS）灵敏 3D化学成像通过将 FIB-SIMS 功能集成到 FIB-SEM 显微镜中，fibTOF 可提供纳米尺度的精确三维化学成像。元素和同位素三维成像 对大多数元素具有高灵敏度，包括氢、锂、硼和氟等低质量元素。可实现的空间分辨率 横向小于 50 纳米，深度小于 10 纳米。明确的元素标识 质量分辨率高......