AB SCIEX公司2011年zei新推出了SelexIONTM 技术。该技术解决了现有同类型仪器设计的不足,保留了串联质谱所有的功能,是首个获得高重现性、耐用性及易用性的离子淌度差分质谱分离技术(Differential Mobility Spectrometry, DMS),同时还可为高灵敏度的定量与定性分析提供更多一维的选择性。DMS系统应用于T......
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zei重要的一环,而元素分析是其中zei重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足,例如因灵敏度不足、空间分辨率较差,无法进行轻元素、微量元素的分析,无法分辨同位素等等,普通的分析手段已不能满足现阶段应用......
SELECT SERIES Cyclic IMS功能强大,发挥极致性能。重新定义科学界限。SELECT SERIES Cyclic IMS将最新的环形离子淌度分离与最先进的高性能飞行时间质谱联用,助力研究人员充分发挥科学发现的巨大潜力。突破离子淌度分离的界限提供可变的高分辨率离子淌度分离引入执行IMSn实验的独特能力。创新的环形离子淌度离子淌度技术已在多种应......
赛默飞LCQ Fleet 离子阱液质联用仪参考多项行业标准ICH 指南。完成药物杂质,阿德福韦酯杂质,洛哌丁胺药物的检测。可以用在多个行业领域中的药物杂志项目。 独家专有技术:- 独一无二的,已获ZL 的自动增益控制(AGC)保证任何扫描方式下离子阱都充满zei佳的离子数量- 动态排除技术Dynamic ExclusionTM 保证离子......
点击查看下载环状离子淌度质谱IMS液质SELECT SERIES Cyclic IMS 其他资料相关资料,进一步了解产品。 样品中分子的空间分布对于了解生物、化学和生理过程机理至关重要。使用解吸电喷雾电离(DESI)技术进行质谱成像(MSI),无需标记样品即可对复杂表面上的目标分子进行多重分析,获得客观的测定结果。这种直接获取样品信息的分析技术能为研究人员提......
创新点:岛津将Essentia IC-16离子色谱仪与LCMS-8050三重四极杆质谱仪联用,建立了高氯酸盐的痕量检测方法。相比较IC法、LC-MS/MS法,该系统可排除样品复杂机制干扰,可同时测定高氯酸盐、溴酸盐、氯酸盐等多种离子,获得μg/L级灵敏度检测结果。IC-MS/MS离子色谱液质联用系统系统优势:适用于水质、食品等样品; 与离子色谱法相......
Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析,用于的表面成份分析和深度剖析。SIMS 工作站(SIMS Workstation-a complete SIMS Analysis Facility) ,综合UHV / SIMS 设备,进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。 ......
产品简介:飞行时间二次离子质谱仪是一种非常灵敏的表面分析技术,可以揭示表面及近表面原子层的化学组成、分析材料单层表面信息、可检测所有元素、识别有机物的结构等,可用于各种材料的高灵敏度表面分析和深度剖析。 SurfaceSeer -S是一种结构紧凑且价格合理的TOF-SIMS,用于快速检测表面化学特性。它是研究样品表面化学成分的理想选择,适用于产品研......
产品简介:飞行时间二次离子质谱仪是一种非常灵敏的表面分析技术,可以揭示表面及近表面原子层的化学组成、分析材料单层表面信息、可检测所有元素、识别有机物的结构等,可用于各种材料的高灵敏度表面分析和深度剖析。SurfaceSeer I是一种高灵敏度的飞行时间二次离子质谱仪,用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I是表面化学研究、研发与......
fibTOF 将聚焦离子束二次离子质谱(FIB-SIMS)灵敏 3D化学成像通过将 FIB-SIMS 功能集成到 FIB-SEM 显微镜中,fibTOF 可提供纳米尺度的精确三维化学成像。元素和同位素三维成像 对大多数元素具有高灵敏度,包括氢、锂、硼和氟等低质量元素。可实现的空间分辨率 横向小于 50 纳米,深度小于 10 纳米。明确的元素标识 质量分辨率高......