切片扫描影像分析系统
开拓了激光显微镜的界限。 -总是值得信赖的影像和测量- 激光扫描显微镜的优势 非接触式、无损、快速成像和测量 ○ 非接触式、无损测量 激光扫描显微镜(LSM)采用低功率激光，不接触样品。因此，不像基于探针系统的接触式表面粗糙度测量仪那样存在损坏样品的风险。 ○ 无需前期准备即可......
OPESCOPE ACTENO是（株）岛津制作所开发制造的最新移动式C-型臂成像系统。可满足多种临床手术所需。为普外骨外、周围血管外科、神经外科所设计。主要特点内藏式电缆设计，易于清洁消毒。全操作面板采用薄膜键，防尘防水，便于清洁消毒，满足手术室无菌环境的特殊要求。电磁锁设计，保证C臂的清洁。独立的电磁锁设计可使C-型臂运动过程中在任意位置进行锁定，确保快速......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature适用于Characterisation项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Polymers等样品。可应用于高分子材料行业领域。 SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many material......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Polymers的检测。可以用在高分子材料行业领域中的Characterisation项目。 SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many materials an......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可用于测定Pollutant Particles，适用于Pollutant Particles项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于电子/半导体行业领域。 监测和过程控制 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Polymer Materials的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样品也可以轻松检测64......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature用于测定Polymer Materials，符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 聚合物添加剂分析 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样品也可以轻松检测64位系统，实现真正的多任务同时工作可以分析一个样品中超过200,00......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可以用在生物质材料行业领域，用来检测Microstructure and Mechanical Properties，可完成Microstructure and Mechanical Properties项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 添加剂生产 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature用于测定Semiconductor Devices，符合行业标准Oxford Instruments。适用Semiconductor Devices项目。 Before volume production of semiconductor devices, it is crucial that the processe......