行业里品牌好的薄膜测厚仪
仪器简介：热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线，可以在线测量薄膜的厚度，并反馈信号自动控制模头螺栓，使薄膜厚度均匀，提高产品质量，降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有Demo中心，将zei新的EPOS操作系统和扫描架模型展览出来，可以为用户提供专业的培训服务。热电瑞美公司产品的主要应用范围有： ......
K层电子被击出时,原子系统能量由基态升到K激发态,高能级电子向K层空位填充时产生K系辐射。L层电子填充空位时,产生踟辐射;M层电子填充空位产生Kβ辐射。原子受到X射线的激发,会使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子。跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能......
球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了......
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 600适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目，参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可以检测废气、废水、废渣等样品。可应用于高分子材料行业领域。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作......
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣，适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域。 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。一次可同时分析多24个元素，五层镀......
赛默飞在线测厚RM210AF/AS用于测定水泥,煤,矿浆,钢板,薄膜,电池隔膜,食品,药品，符合行业标准。适用解决方案项目。 材料与矿物Materials and Minerals (M&M)相关市场、产品和解决方案介绍 铝箔和铝冷轧测厚仪......
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料，进一步了解产品。 目前，在未来能量转换和存储体系中，对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些薄膜具有多孔的材料特性，可以获得用于电子传递的高界面表面积。控制这些界面结构对这类体系性能是至关重要的。 仪器简介：SAXSess mc2（Small......
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料，进一步了解产品。 目前，在未来能量转换和存储体系中，对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些薄膜具有多孔的材料特性，可以获得用于电子传递的高界面表面积。控制这些界面结构对这类体系性能是至关重要的。 仪器简介：SAXSpace（Small &am......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是基于薄膜的反射光干涉原理，用于测量和分析薄膜厚度。适用于半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。 工作原理光学薄膜厚度测量系统，是基于薄膜的反射光干涉原理，用于测量和分析薄膜厚度。它利用波长范围为200-1700nm的光垂......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。适用于测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。利用波长范围最宽为200-1700nm的......