tic 检测器
性能特点：进口高压双柱塞平流泵，流速范围宽，耐高压，耐酸碱，耐100%有机溶剂PEEK流路系统，高压六通阀，信号自动采集连续自动再生膜抑制器，抑制容量大，适用范围广，使用寿命长数字式控温电导检测器具有高灵敏度、高稳定性、使检测结果准确可靠具有反控功能的色谱工作软件，全中/英文显示，具有多通道数据采集技术......
徕卡抛光机Leica EM TIC 3X参考多项行业标准。完成半导体芯片的检测。可以用在纳米材料行业领域中的截面结构项目。 1.独特的三离子束系统，可获得最佳的截面处理质量，并可高效获得宽且深的切割区域，大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中最多处理3个样品。因此对有高通量需求的实验室，徕卡EM TIC 3X是最佳解决方案。 三离子束（分别独......
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 适用于截面结构项目，参考多项行业标准。可以检测半导体芯片等样品。可应用于纳米材料行业领域。 1.独特的三离子束系统，可获得最佳的截面处理质量，并可高效获得宽且深的切割区域，大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中最多处理3个样品。因此对有高通量需求的实验室，徕卡EM TIC 3X是最佳解......
点击查看下载Leica EM TIC 3X 德国离子研磨仪 EM TIC 3X徕卡 Leica EM TIC 3X离子研磨仪相关资料，进一步了解产品。 为透射电镜/扫描电镜/生命科学/工业材料样品提高样品制备全套解决方案.徕卡纳米技术部提供：超薄切片，组织处理，高压冷冻，镀膜，临界点干燥，机械研磨抛光，离子束研磨，冷冻断裂/复型及真空环境传输等各类技术手段，......
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪
参考成交价格： 100~200万元[人民币]
型号：Leica EM TIC 3X
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 如今，离子束蚀刻技术是应用最广泛的电子显微镜样品制备方 法。在蚀刻过程中，高能氩离子束轰击样品，并根据其应用领域 调整 离子束能量和切割角度。 在制备扫描电子显微......
点击查看下载Leica EM TIC 3X 徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3X 样本相关资料，进一步了解产品。 徕卡Leica EM TIC 3X可通过离子束侧面轰击样品，获得高质量无应力“切割”截面，以便于SEM观察，及EDX或EBSD等分析。并可对样品进行离子束平面抛光，抛光面积达25mm。Leica EM TIC 3X适用于多层膜材料、软硬复合材料......
产品简介：独特宽场三离子束，垂直于样品侧面纵向轰击样品，实现高质量无应力“切割”截面，几乎适用于各种材料。可对样品进行离子束抛光处理。产品介绍：LeicaEMTIC3X三离子束切割仪可以制备横切面和抛光表面，适用于扫描电子显微镜(SEM)、微观结构分析(EDS、WDS、Auger、EBSD)和AFM科研工作。使用LeicaEMTIX 3X，几乎可以在室温或冷......
效率和灵活性是LeicaEMTIC3X三离子束切割仪的核心特点。新版EMTIC3X秉承“与用户合作，使用户受益”的理念，以实用性为重点，将性能和灵活性完美融合。最新的EMTIC3X切割速度翻倍，同时提供五种不同的载物台供用户选择，进一步提升了实用性。LeicaEMTIC3X‐IonBeamSlopeCutter可制备横切面和抛光表面，用于扫描电子显微镜(SE......
产品简介：独特宽场三离子束，以垂直于样品侧面纵向轰击样品，实现高质量无应力“切割”截面，几乎适用于各种材料。还可对样品进行离子束抛光处理。产品介绍：LeicaEMTIC3X三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面，用于扫描电子显微镜(SEM)、微观结构分析（EDS、WDS、Auger、EBSD）和AFM科研工作。使用LeicaEMTIX 3X，您几乎可以在室温或......
产品简介：这款设备拥有独特的宽场三离子束技术，能够垂直于样品侧面进行纵向轰击，实现高质量无应力的"切割"截面，几乎适用于各种材料。同时也可以对样品进行离子束抛光处理。产品介绍：LeicaEMTIC3X三离子束切割仪可复制结果，可制备横切面和抛光表面，适用于扫描电子显微镜（SEM）、微观结构分析（EDS、WDS、Auger、EBSD）和AFM科研工作。使用Le......