plasma缺陷检测
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 晶圆缺陷自动检测应用
参考成交价格： 500~1000万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX-Wafer
工业领先的低噪声帕克原子力显微镜于长距离滑动台相结合，成为用于化学机械抛光计量的原子力轮廓仪，新的低噪声AFP为局部和全面均匀性测量提供了非常平坦的轮廓扫描，具有好的轮廓扫描精度和市场可重复性，这保证在宽范围的轮廓量程上没有非线性或高噪声背景去除的高精度测量。 主要技术特点200 mm电动XY平台300 mm电动XY平台电......
Higher Throughput, Automatic Defect Review对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析， 从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接，这就意味着自动缺点检查通......
毫无争议的最佳原子力显微镜-自动缺陷检查和表面粗糙度测量 更高的通量，自动的缺陷检查对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析，从而加速缺陷检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接连接，这意味着自动缺点检查通量大幅提高。&nbs......
exoRNeasy Serum/Plasma Maxi Kit 试剂盒从血清或血浆样本中高效纯化囊泡RNA可处理大体积样本，可灵敏检测低丰度转录本1小时内即可完成囊泡RNA的分离采用离心柱纯化流程，能够平行处理多个样本可从血清或血浆中分离miRNA和mRNAexoRNeasy Serum/Plasma Maxi Kit采用亲和性膜离心柱，可从exosomes......
Park NX-Mask是一款用于修复高端EUV掩膜的创新型机台。Park NX-Mask 采用最新的原子力显微镜技术，配有新一代的光罩修复系统，用于解决随着器件尺寸缩小和光掩膜复杂性增加带来的新式挑战。从自动缺陷检测到缺陷修复再到修复验证的一站式解决方案为您提供了前所未有的修复效率，让您的研究工作事半功倍。- 无任何类型的缺陷损坏和修复风险- 兼容双EUV......
电池缺陷检测仪XG5000广泛应用电池行业检测电池的内部缺陷和实效分析。用户可以通过这款仪器获得高质量、高放大倍率、高分辨率的电池内部图像，对电池内部的正负极以及内部结构进行检测。 电池缺陷检测仪XG5000具有标配超高性能90KV 的X射线管，可检测5微米的缺陷，zei大几何放大倍率可达到48X.优质的优质的影像品质，高对比度，可检......
脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用） 脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）此系列激光器为单模激光器，通过内置从输入的TTL/LVTTL数字信号中产生光脉冲。脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）脉冲长度从1.5 ns -CW 连续可调，脉冲重频 从单脉冲- 250 MHz可......
如何使用影像亮度色度计进行 FPD 自动光学检测在产线上及产线的最终检测中，主要有三种方法可对高速生产过程中的平板显示屏 (FPD) 进行光学检测： 1) 人工检测 —— 轻松处理比较复杂的测试要求。但与电子测试方法相比，它相对缓慢，变化较大2) 基于机器视觉的检测 —— 非常快捷，测试简单。但很多测试不能反映出人的视觉体验3) 基于影像亮度色度计......
表面视像缺陷检测系统表面视像缺陷检测系统的主要优点：1、技术领先，60MHz高速行扫描CCD技术，每秒可最大扫描14,000次，防止漏验。2、独特的LED光源技术，高亮度，高寿命，低能耗。3、生产统计、趋势功能软件，让生产状况一目了然。4、高级分切管理等功能，帮助优化分切。5、中文界面，从操作到高级设置，方便使用，让您100％完全掌握系统。6、系统可升级扩展......
在线表面杂质缺陷检测系统里程碑式创新的全自动在线检测，专门用于密封件，管材件和线缆 表面杂质缺陷检测专业汽车产品检测车体，车门，车罩的密封条和密封件 雨刮 内部装饰板车罩 车体和发动机的金属件 封边件 和其他更多需要检测的产品......