结构材料
在最短的测量时间内提供出色的数据质量SAXSpoint 5.0 采用高光谱纯度和无散射光束准直的高亮度 X-射线束。配备强大的微焦斑光源或 MetalJet X-射线源和高性能光学元件，可在极短的曝光时间内提供出色的测量结果。结合最新的混合光子计数 (HPC) 探测器，可确保获得高质量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 结果，以实现纳米结......
安东帕X射线散射仪安东帕SAXSpace可用于测定材料，适用于无项目。并且参考多项行业标准科研分析，暂无相关标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。 用SAXSess mc²研究介孔材料的多孔纳米结构和其内表面。诸如孔格的对称性，孔径尺寸和内比表面积等重要的结构详细信息都能得到确定。 SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶......
点击查看下载沃特世凝胶色谱ACQUITY APC 超高效聚合物色谱系统 更智能、更快速地研究材料结构相关资料，进一步了解产品。 更智能、更快速地进行详尽的材料研究 对于聚合物和塑料产业而言，研发各种聚合物和开拓可持续发展道路至关重要。 当前GPC/SEC方法分辨率低，分离时间长并且溶剂消耗量大。沃特世 ACQUITY APC (Advanced......
半导体材料微结构分析与评价 广电计量提供半导体材料微结构分析与评价服务,提供半导体材料元素成分分析,结构分析,微观形貌分析测试服务.CNAS资质认可,帮助客户全面了解半导体材料理化特性.服务范围半导体材料、有机小分子材料、高分子材料、有机/无机杂化材料、无机非金属材料。检测项目（1）半导体材料元素成分分析：EDS 元素分析，......
中图仪器CEM3000材料内部结构观测扫描电镜具有出色的电子光学系统，优于4nm的空间分辨率成像，清晰呈现样品表面微细结构。一、应用领域应用领域1.工业生产与质量控制：（1）PCB/PCBA缺陷分析： 快速定位焊点虚焊、桥连、裂纹，分析线路缺陷。（2）金属材料断口分析： 清晰判断断裂性质，为产品改进提供关键依据。（3）涂层/镀层检测： 直观评估涂层均匀性、厚......