X射线衍射（XRD）法测定Ni电极材料结构、半高宽、峰高比及其测定方法的研究

通过衍射峰的半高宽和峰高比可以研究Ni电极材料粉末颗粒的微结构特征，本文描述了应用X射线衍射法测定Ni阳电极材料结构、计算其衍射峰的半高宽和峰高比。求解峰高比时改进测定方法，采用定点测量的方法，减小了在密封式管条件下由于计数小而产生很大的计数统计误差1/ ，使定量更准确。从而可以更好地了解Ni电极材料的电极性能，便于建立工艺条件。