jem-2010 日本透射电镜
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
产品特点：JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。STEM-HAADF像的保证分辨率（78pm*1 ）为世界之领先性能标配照明系统球差校正器，且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、......
2021年1月22日，日本电子株式会社（JEOL）全球同步发布300KV冷冻电镜的升级版JEM-3300,主要特点如下：1）更稳定的冷场发射电子枪2）全自动欧米伽能量过滤器3）最高加速电压300kV4) 自动进样装置5）自动单颗粒数据采集软件6）JEOL成熟的相位版技术7）高效全自动操作软件JADAS8）科勒照明光路等产品特点：高效、易于操作且随......
2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为：......
外观设计精炼精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-......
JEM-F200 场发射透射电子显微镜以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。外观设计精炼精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在......
[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]STEMx 20,000 ～ x 200,000,000TEMx 200 ～ x 1,500,000[电子源]电子源热场或冷场加速电压*2800, 200 kV[稳定度]加速电压≦5 x 10-7/min......
点击查看下载日本电子透射电镜JEM-ARM200F NEOARM 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 技术参数： 1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm &nbs......
专为高性能的单粒子分析而设计，低温电子断层成像（Cryo-ET）和微晶体电子衍射（MicroED），Thermo Scientific Krios 5 低温透射电子显微镜（Cryo-TEM）能够通过专注于数据精确度，快速生成高质量的结构。增强的常规对齐自动化、改进的光学精确度，以及 Thermo Scientific Smart EPU 软件的 AI 辅助功......
Thermo ScientificTM IliadTM （扫描）透射电镜实现了在电子显微镜领域的革命性突破，是一款完全集成的球差校正分析型（扫描）透射电镜，其配备了全新的电子能量损失谱仪 (EELS) 和能量过滤器，专用的 Zebra 电子能量损失谱 (EELS) 探测器，全新的......