南京超硬材料离子减薄仪

Leica EM RES102 多功能离子减薄仪产品规格下载性能与优点  适用于TEM,SEM以及LM的样品制备   独特的解决方案Leica EM RES102 是一款独特的离子束研磨设备,带有两个鞍形场离子源,离子束能量可调,以获得最佳离子研磨结果。这一款独立的桌面型设备集 TEM,SEM和LM样品制备功......

Hit 300 是一款优质且价格非常实惠的纳米硬度测试仪,专为每位用户和各种类型的环境打造。直观、自动化的 Hit 300 可让您每小时进行 600 次测量,甚至在您走开的时候。主动阻尼减震可确保在所有环境中的准确性。独特的双激光瞄准系统在对准样品时可提供小于 1 mm 的精度。设计时考虑了功能性:安装只需 15 分钟,培训到获得第一个结果只需 1 小时。市......

徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102适用于粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样项目,参考多项行业标准圆派科学仪器。可以检测粉体类等样品。可应用于塑料行业领域。 粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样技巧 这一款独立的桌面型设备集 TEM,SEM和LM样品制备功能于一体,这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子研磨功能外,徕卡EM RES102还可......

徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102可以用在生物质材料行业领域,用来检测粉体类,可完成粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样项目。符合多项行业标准圆派科学仪器。 粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样技巧 Leica EM RES102 多功能离子减薄仪产品规格下载性能与优点  适用于TEM,SEM以及LM的样品制备 &......

徕卡电镜制样Leica EM RES102适用于粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样项目,参考多项行业标准圆派科学仪器。可以检测粉体类等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 粉体类样品离子束切割的扫描电镜制样技巧 这一款独立的桌面型设备集 TEM,SEM和LM样品制备功能于一体,这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子研磨功能外,徕卡EM RES102还可用......

徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102适用于小零件的微纳镀层截面CP制备项目,参考多项行业标准圆派科学。可以检测小零件的微纳镀层等样品。可应用于航空/航天行业领域。 微小零件的微纳镀层截面CP制备方法分享(精研一体机,离子束切割抛光仪) 这一款独立的桌面型设备集 TEM,SEM和LM样品制备功能于一体,这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子......

徕卡电镜制样Leica EM RES102参考多项行业标准圆派科学。完成小零件的微纳镀层的检测。可以用在生物质材料行业领域中的小零件的微纳镀层截面CP制备项目。 微小零件的微纳镀层截面CP制备方法分享(精研一体机,离子束切割抛光仪) 这一款独立的桌面型设备集 TEM,SEM和LM样品制备功能于一体,这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子研磨功能外,徕卡E......

徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102可以用在地矿/有色金属行业领域,用来检测小零件的微纳镀层,可完成小零件的微纳镀层截面CP制备项目。符合多项行业标准圆派科学。 微小零件的微纳镀层截面CP制备方法分享(精研一体机,离子束切割抛光仪) Leica EM RES102 多功能离子减薄仪产品规格下载性能与优点  适用于TEM,S......

徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102用于测定小零件的微纳镀层,符合行业标准圆派科学。适用小零件的微纳镀层截面CP制备项目。 微小零件的微纳镀层截面CP制备方法分享(精研一体机,离子束切割抛光仪) 这一款独立的桌面型设备集 TEM,SEM和LM样品制备功能于一体,这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子研磨功能外,徕卡EM RES102还可用......

Gentle Mill 离子减薄仪/离子精修仪--用于制备高质量 TEM/FIB 样品Technoorg Gentle Mill 离子精修仪产品专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。 Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 同时,Gentle Mi......