eds的实验报告
产品规格：能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV分光谱仪艙安装位置：EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CC......
Octane Elect EDS 系统Octane Elect EDS 系统是一款增强型能量色散谱 (EDS) 平台，融入了最新硅漂移探测器 (SDD) 技术和高速电子元件。Octane Elect EDS 系统专为在入门级系统基础上具有更高性能及功能需求的用户量身打造，在最优值下具有十分出色的分辨率和较高的通量，拥有卓越的低能量灵敏度，可实现轻元素检测和低......
适用于 TEM 的 Octane SDD 系列EDAX 用于 TEM 的 Octane SDD 系列是全球首款实现完全集成的透射电子显微镜 SDD。数据采集和信号处理电子元件被完全集成到探测器中。集成探测器考究的设计，不仅使性能得到提升，便于安装，还可通过几乎任何计算机借助以太网轻松实现远程访问。EDAX 的 TEAM™ EDS 系统配备了用于透射电子显微镜......
Octane Elite EDS 系统Octane Elite SDD 的颠覆性进展将探测器技术提升至一个全新高度。此系列探测器采用了新型氮化硅 (Si3N4) 窗口，使轻元素检测和低 kV 微区分析中的低能段灵敏度有了显著改善。此外，Octane Elite EDS 系统还采用了先进电子元件，可在更小的全真空封装探测器装置内实现高速 X 射线数据处理。Oc......
牛津仪器软件AZtecTEM参考多项行业标准Oxford Instruments。完成磁铁矿的检测。可以用在多个行业领域中的有标样定量项目。 AZtecTEM 是一款专为透射电镜用EDS分析而设计的软件。 AZtecTEM 是一种用于表征纳米级材料的分析系统。凭借牛津仪器超过30年的TEM技术经验，Aztec几乎可以满足您对TEM新一代EDS系统的任......
X射线能谱仪EDS能谱实时元素成像系统Azteclive 适用于EBSD and EDS Characterisation of high entropy alloys
参考成交价格： 暂无
型号：Azteclive
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive可用于测定Metals，适用于EBSD and EDS Characterisation of high entropy alloys项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于地矿/有色金属行业领域。 A high entropy alloy, Al8Co17Cr17Cu8Fe17Ni......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Power Semiconductors，适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于电子/半导体行业领域。 失效分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Polymers，适用于Characterisation项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域。 SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many materials and is being ......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......