光学三维轮廓仪 大学
NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性，超出了接触式仪器的可能，使其成为一种互补的技术或独立的计量解决方案。无与伦比的计量灵活性NPFLEX是专为调查广泛变化的样本大小和形状而设计的，而不损坏样品。不敏感的材料类型，该系统的WL......
HD 9800+3D大格式表面轮廓系统是世界上最先进的用于在线数据存储滑块计量学的光学轮廓仪。该系统将可测量光学表征技术与先进的自动化技术相结合，使PTR和平坦度测量性能得到优化。HD 9800+结合了几十年的工业高清计量经验，使用白光干涉测量(WLI)，自我校准，LED高强度照明，操作友好的软件，以及一系列其他功能，以提供稳健，高分辨率，无......
结合了十多年的包装光学特性专门知识，CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层，并包含了一系列先进的功能，为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面，提供了......
完全自动化Contour Elite X三维光学剖面仪结合了无与伦比的测量能力，在业界最大的视野和高保真度彩色或单色成像的最高垂直分辨率。没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作人员方便和成像能力来解决如此广泛的生产计量应用。为满足最苛刻的研发、质量保证和过程质量控制需求而设计，Contour Elite X提供了最终的量具能力三维光学......
立体式三维光学剖面仪为实验室研究和生产过程控制提供了最高性能的非接触表面测量。结合十代白光干涉测量(WLI)的创新和设计，这一计量系统提供了最高的垂直分辨率超过该行业的最大视野。主要功能包括完全自动化和生产接口，大型电动XYZ级，头部倾斜/倾斜，以及一个完整的空气隔离台。设计从地面到最苛刻的研发，质量保证，和过程质量控制的需要，CONTEBGT-X提供了最终......
Contracx-200光学轮廓仪提供了先进的特性，可定制的选择完美的混合，并易于使用的最佳级别，快速，准确，可重复的非接触式三维表面计量。该量具能力，小足迹系统提供了不妥协的2D/3D高分辨率测量能力，使用更大的FOV 5 MP数码相机和新的机动XY舞台。由于拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，Contracx-200提供了Bruker公司专有的白光干......
Contracex-100型光学轮廓仪在最佳价格点上为精确和可重复的非接触式表面计量设置了一个新的基准。小足迹系统提供不妥协的2D/3D高分辨率测量功能，在一个流线型封装，融合了几十年的专利布鲁克白光干涉测量(WLI)的创新。下一代增强包括一个新的5 MP相机和更新阶段的更大的缝纫能力，和一个新的测量模式，USI，为精密加工表面，厚膜和摩擦学应用更大......
中图仪器SuperViewW1白光干涉三维光学轮廓仪基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，能以3D非接触方式对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等......
中图仪器SuperViewW自动三维白光干涉光学轮廓仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满......
