三维光学轮廓仪Contour Elite X

完全自动化Contour Elite X三维光学剖面仪结合了无与伦比的测量能力，在业界最大的视野和高保真度彩色或单色成像的最高垂直分辨率。没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作人员方便和成像能力来解决如此广泛的生产计量应用。为满足最苛刻的研发、质量保证和过程质量控制需求而设计，Contour Elite X提供了最终的量具能力三维光学剖面解决方案。

彩色成像与计量相结合

额外的高保真彩色成像，独家侧照明和先进的算法，使等Contour Elite X用户访问额外的视角，无法提供的系统，单独提供计量学，以及提供可识别的表面特征细节的报告能力。这使用户能够根据颜色或灰度信息分割数据，以快速选择感兴趣的区域，并从这些特定区域收集关键的计量数据。将高端计量学与观察、识别和显示测量结果的能力结合起来，不仅对于理解数据，而且对于交流结果，都是非常重要的。

最佳横向和纵向分辨率

Contour Elite X系统拥有最好的组合横向和纵向分辨率超过行业的最大视野，有一个亚纳米到大于10毫米的垂直范围。它包括研发100奖的针灸XR测量技术，它提供了打破衍射极限在您的光学测量。此外，该系统还可以使用一个百万像素的相机来提高X-Y空间分辨率.从1倍到115倍的大视场和客观放大使得能够描述极其广泛的表面形状和纹理。

快速无损成像

Contour Elite X型剖析器是一个非接触系统与一个大的舞台，使您的样本或部分完整和未损坏。我们的专利白光干涉测量(WLI)技术获得高度数据的亚纳米精度，是独立于放大使用。这意味着，即使在一毫米范围内采样超过一百万个数据点--平方图像区域，用户也能够在几秒钟内收集到高分辨率的高度数据。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途