stem测试原理
阴荧光分析系统-CL-STEM瑞士Attolight公司生产的Monch 4107是一个用于STEM，可以实现前所未有的信噪比和高的光谱分辨率阴发光检测器。它可以帮助研究人员实现对单个纳米粒子，量子点或原子缺陷测量进行超高分辨率的图像和高光谱图谱的检测。当您使用STEM进行阴荧光光谱的探测，能够短的时间内达到所需的信噪比是至关重要的，这样您才可以在短时间内测......
光学散射原理 在线粉尘浓度测试仪OPM-6303MOPM-6303M粉尘浓度仪采用光学散射原理，可精确检测并计算单位体积内空气中不同粒径的悬浮颗粒物的个数，内置四方全新ZL技术尘源智能识别，配以流量稳定的气泵，实现颗粒物PM1.0、PM2.5、PM10、TSP质量浓度的实时检测和输出。产品特性全新ZL技术尘源智能识别 工业级激光器，可靠性高&nbs......
TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速电压、近超高真空的集成 4D-STEM， 用于多模态表征功能材料、薄膜、天然和合成颗粒的纳米形态、化学和结构特性，具有出色的4D-STEM 性能和前所未有的普遍适用性。 测量功能:TESCAN TENSOR 为材料科学家、半导......
薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为：由原子，分子或离子沉积在基片表面形成的2维材料。例：光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器，机械，印刷等行业。TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中......
电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统、电源系统5部分构成，如果细分的话：主体部分是电子透镜和显像记录系统，由置于真空中的电子枪、聚光镜、物样室、 物镜、衍射镜、中间镜、 投影镜、荧光屏和照相机。TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速......
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束......
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速电......
功能材料是指那些具有优良的电学,磁学,光学,热学,声学,力学,化学,生物医学功能,特殊的物理,化学,生物学效应,能完成功能相互转化,主要用来制造各种功能元器件而被广泛应用于各类高科技领域的高新技术材料。TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速电压、近超高真空的集成 4D-ST......
容量法积测试仪V-Sorb 2800S比表面 有关BJH的测试原理、计算步骤及适用范围有特定规范与标准，应用于电池/锂电池行业领域。点击查看相关规范标准。 1、孔径的定义 产品介绍容量法比表面积测试仪，也称为静态法比表面积测试仪，吸附量由气体状态方程计算得到，是高精度比表面积测试的首选方法。V-Sorb 2800S由北京国仪精测技术有限公司自主研发，历经十余......
Phenom Pharos 台式场发射扫描电镜因其多功能性和卓越的成像性能赢得了良好的口碑 —— 即使是在传统较难观测的样品中也表现优异。直观的用户界面有助于将高分辨率图像呈现给用户， FEG 场发射电子源在 1-20kV 的加速电压范围内都提供了高分辨率。Phenom Pharos STEM 台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜，配备了 STEM 样品......