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参考报价: | 面议 | 型号: | TENSOR |
品牌: | 泰思肯 | 产地: | 捷克 |
关注度: | 608 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
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透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。TEM的分辨力可达0.2nm。
TESCAN TENSOR
高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM
TESCAN TENSOR 是一款中等加速电压、近超高真空的集成 4D-STEM, 用于多模态表征功能材料、薄膜、天然和合成颗粒的纳米形态、化学和结构特性,具有出色的4D-STEM 性能和前所未有的普遍适用性。
测量功能:
TESCAN TENSOR 为材料科学家、半导体研发和失效分析人员以及晶体学家提供了众多已预设的STEM、4D- STEM和断层扫描测量的参数:
Ø STEM BF, ADF 和 HAADF 成像
Ø STEM 晶格像
Ø 成分 (能谱分析和元素面扫)
Ø 取向 / 物相分布成像
Ø 应力分布图
Ø 虚拟 STEM
Ø STEM 和 EDS 重构
Ø 衍射重构
性能:
TESCAN 从零开始开发了全新的 TENSOR,优化了STEM 扫描的同步功能:
Ø 混合像素的直接电子衍射相机衍射成像
Ø 2个无窗EDS探测器(2个大立体角)进行快速地能谱采集
Ø 快速,旋进电子束频率高达 72kHz
Ø 一体化的静电束闸
Ø 近实时4D-STEM数据分析、处理和可视化软件(TESCAN Explore)
Ø 都集成在模块化、中高压、近超高真 (样品区域真空达到10-6 Pa) 的肖特基场发射电子枪上
可用性:
TESCAN TENSOR 是一台可以像扫描电镜一样易于使用的STEM。它可以让使用者把时间花在样品分析上,而不是浪费于参数调整。新手用户只需要最少时间的训练,就能很快获得结果。有经验的用户可以使用选配的 API 开发适合自己的测量功能,并通过 HyperSpy、LiberTEM 或 y4DSTEM 等开放平台的解决方案导出 TENSOR 4D- STEM 的数据集进行离线处理。
TESCAN 4D-STEM TENSOR 合成颗粒的纳米形态信息由TESCAN(中国)为您提供,如您想了解更多关于TESCAN 4D-STEM TENSOR 合成颗粒的纳米形态报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途