eds电子能谱仪
牛津仪器能谱实时元素成像系统Azteclive参考多项行业标准Oxford Instruments。完成岩石的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Characterising Complex Rock Samples using Symmetry项目。 Geological samples can be extremely challenging to ......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme适用于Pollutant Particles项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Pollutant Particles等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 监测和过程控制 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extre......
牛津仪器能谱实时元素成像系统Azteclive用于测定 Li-Ion battery，符合行业标准Oxford Instruments。适用Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目。 Lithium Ion batteries are found in......
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive参考多项行业标准Oxford Instruments。完成 Li-Ion battery的检测。可以用在生物质材料行业领域中的Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目。 Lithium Ion batteri......
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于纳米材料行业领域。 半导体制造解决方案 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme可用于测定Metals alloys and ceramics，适用于Metals alloys and ceramics项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于地矿/有色金属行业领域。 材料成分和结构 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，......
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 AZtecLive是一种变革性的EDS分析方法，可以改变用户在SEM中进行样品筛选的方式。它将实时电子图像与实时X射线元素成像结合起来，为客户提供了一种更......
牛津仪器能谱实时元素成像系统Azteclive适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 失效分析 附录视频中以Ti6Al4V钛合金细粉末为例做了展示。Ti6Al4V是一种轻合金，具有优异的力学性能、耐腐蚀性和......
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Pollutant Particles的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的Pollutant Particles项目。 监测和过程控制 AZtecLive是一种变革性的EDS分析方法，可以改变用户在SEM中进行样品筛选的方式。它将实时电子图像与实时X射线......