显微镜高倍镜与低倍镜
AFM Solutions for General ResearchTall Sample 1.5 µm step height扫描模式：非接触模式，Z轴位置传感器的形貌Flat Sample Atomic steps of sapphire wafer台阶高度0.3 nm，扫描模式：非接触模式，Z轴位置传感器的形貌 Hard Sample Tun......
Park NX-Wafer 低噪声原子力轮廓仪，用于更精确的CMP轮廓测量亚埃级表面粗糙度测量具有极高的精度和极长的探针使用寿命用于缺陷成像和分析的全自动AFM解决方案全自动系统，包括自动探针更换、机器人晶片搬运能够扫描300 mm晶圆 为在线晶圆厂计量提供高生产率和强大特性光片和基板的自动缺陷检测新的300mm光片ADR提供......
Park FX40 纳米科学研发界应运而生的的新型全自动原子力显微镜该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得最敏锐、最清晰、最高分辨率的扫描图像。通过前所未有的速度和精度，推动您研发进步并助力您的科学新发现——FX40将人工智能运用得淋漓尽致，全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。额外的轴向自动激光校准、早期预警系统和故障自动保险......
公安自动微观比对显微镜|徕卡高倍显微镜 Leica FS CB徕卡FS CB 由两台徕卡 DM 系列高倍显微镜 通过自动比对桥连接而成。 配置了内置人机工程学观察镜筒的比对桥可以进行zei舒适的观察。不同的图像模式(分离图像, 叠加图像以及组合图像) 都可通过单一按钮的操作来实现。徕卡FS CB是一台理想化的对两个放大倍数高达1500倍的精密图像可......
帕克 NX-TSH 自动化原子力显微镜系统 表面粗糙度测量
参考成交价格： 1000~1500万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX-TSH
专为OLED面板行业整片测量，LCD测量提供的全自动探针扫描器解决方案专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计Park原子力显微镜公司已经扩展了原子力显微镜设备的测量尺寸，Park NX-TSH（龙门架设计平板式探针扫描器）可针对第八代及大于第八代的所有大型平板显示器进行测量。专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计，最大样品尺寸可以测2200 mm。硅片直径的......
帕克Park NX系列纯干货分享：原子力显微镜用户操作手册 研究电学特性的样品制备，需要样品表面和样品盘电学导通
参考成交价格： 暂无
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX系列
原子力显微镜样品制备详细流程 本手册共有32页，详细说明了原子力显微镜样品的制备流程。本手册为大家提供免费学习教程，旨在为使用原子力显微镜的研究人员或即将使用原子力显微镜的研究者们提供更有效的样品制备使用说明。 原子力显微镜以其较强的原子和纳米尺度上的分析加工能力，在纳米科学技术的发展中占据及其重要的位置，......
NX-Hybrid WLI 功能Park WLI系统Park WLI支持WLI和PSI模式（PSI模式由电动过滤器变换器 支持）可用物镜放大倍数：2.5X 、10X、20X、50X、100X两个物镜可由电动线性换镜器自动更换WLI光学干涉测量扫描 Mirau 物镜高度时，由干涉引起的光强变化可以计算每个像素处的样品表面高度白光干涉测量 (WLI) 和相移干涉......
SmartScan™可提供一个独立便捷的绘图编辑器[硅上的圣诞球光刻]Park SmartScan™所支持的SmartLitho模式设计压电力显微镜双信号3D图像[压电陶瓷上光刻的太极标志]最简易的纳米光刻和纳米操作的智能化软件由SmartScan所支持的Park SmartLitho功能，基于原子力显微镜平台，可实现对材料，电气和电子设备，纳米技术和其他研......
优点更高的生产率告别繁琐工作减少学习时间保证每次都获得高质量图片加快图像扫描清除用户错误，避免导致针尖或系统破坏功能强大，操作简单大多数原子力显微镜需要用户进行复杂的操作，但 Park SmartScan 则属例外。用户仅需按照设置相关的简单明了的动画说明，在自动模式下点击三下即可。若您想要进行更多控制，系统还提供一套全面的功能和参数设置。 打开原......
Park SmartScan™为用户提供原子力显微镜技术的强大功能Park SmartScan 是为Park原子力显微镜打造的革命性操作软件。即使是没有任何经验、没有经过任何培训的用户也可通过该软件制作高质量的纳米图像，而这一过程只需在自动模式下点击鼠标三下即可完成，这可以与专家团队利用传统技术制作的图像相媲美。SmartScan 手动模式适用于......