eWARP分析大变形样品，So Easy!
2025-04-30 13:22:48 布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)
又快又灵敏的EBSD
Lightning eWARP
应用案例：
Application Performance
大变形样品
大变形样品因其严重晶格畸变、高位错密度导致其EBSD分析一直是业内的难点：
样品经过大变形后高应变导致晶格畸变严重，会使得菊池带信号质量不高，常规EBSD很难获取到高信噪比的花样，导致标定率低；
高位错密度可能会形成亚微米结构（如亚晶界），常规的20kV EBSD分析很难满足变形样品对空间分辨率的要求；
高应变区需要更小的扫描步长提升分辨率，这会导致数据量激增，时间成本增大，同时也要求扫描电镜和样品在高电压及大束流下稳定数个小时。
eWARP表征结果
eWARP应用案例：10kV、7.5nA分析大变形冷锻钢
eWARP应用案例：10kV、7nA分析大变形铝合金
Lightning eWARP
New Era of EBSD
布鲁克最新发布的直接电子探测Lightning EBSD – eWARP完美解决了以上问题，让大变形样品的分析变得非常简单：
使用硅作为活性表面，将衍射电子信号直接转换为电信号，一方面比传统带磷屏的EBSD的光电转换效率提升4倍以上，另一方面消除了传统带磷屏EBSD光信号转换过程中的噪声和信号损失。eWARP超高的信号探测效率使其在分析大变形样品时仍然能够获得高信噪比的花样；
超高的灵敏度加上CMOS技术带来高读取速度，让eWARP在10kV加速电压下仍可达到14400点的采集标定速度，不仅能够有效提升空间分辨率，而且它可以在几分钟内获得数百万像素级的EBSD mapping。
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