直播回顾 | 2月微谱直播课，干货满满，快来观看吧

2023-12-11 15:00:58 上海微谱检测科技集团股份有限公司

2月，微谱携手多位专家带来了10场精彩纷呈的直播课程，面向先进制造、化妆品两大领域，提供了分析检测多角度的经验分享。快来跟着小微一起回顾吧~

先进制造领域

X射线检测系统CT的分析测试技术与在元器件研发与失效分析中的应用

基于不同物质对辐射的减弱和吸收特性，利用射线照相技术来产生一个物体的多个二维图像，结合计算机信息处理和图像重建技术，应用于样品的无损3D成像。可实现样品的内部及外部测量、芯片结构断层扫描、外形尺寸分析比对、壁厚分析、缺陷查找与分析、纤维取向分析和科研开发。可应用于工业质量与检测、高分子材料、复合材料、金属材料以及能源材料等多领域。

CT应用工程师王路达将带来“X射线检测系统CT的分析测试技术与在元器件研发与失效分析中的应用”直播课程，为您讲解仪器可针对元器件等样品的缺陷查找，材料的结构分析；为失效分析提供无损的解决方案。

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GDMS在高纯无机材料纯度测试和杂质元素测试中的应用

GDMS将辉光放电离子源和高分辨率质谱仪结合，主要应用于高纯度无机固体材料的成分分析，可以一次扫描即可测量从锂（Li）到铀（U）之间所有元素成分；配备针状和片状样品架，可用于各种形态固体样品，并以对元素纵向浓度进行分析，具有基体效应小、线性动态范围宽、检测限低等优势，可对导体、半导体和绝缘材料进行分析，广泛应用于高纯金属、合金、半导体材料、高纯石墨等行业。

高纯材料表征专家高钟伟将带来“GDMS在高纯无机材料纯度测试和杂质元素测试中的应用”直播课程，为您讲解仪器可针对高纯金属材料，合金材料，半导体材料中从锂到铀所有元素含量测试，为半导体材料制造行业和电子材料制造行业提供纯度精确测量的方案。

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LC-Q-TOF在靶向及疑似物筛查中的应用

基于液相的分离技术，利用实时校正来稳定仪器的质量轴，结合MassLynx和UNIFI软件，应用于未知物的定性分析；可实现样品中未知成分的分子式解析、利用数据库进行靶向筛查及非靶向筛查分析；此设备可应用于环境及食品安全、生命科学及药物研究等多领域。

技术工程师汪萍萍将带来“LC-Q-TOF在靶向及疑似物筛查中的应用”直播课程，为您献上甬江实验室LC-Q-TOF设备测试原理及仪器能力介绍，数据库靶向筛查、非靶向筛查、未知物定性分析等案例分享。

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DSIMS在多领域材料中的表面痕量元素分析

动态二次离子质谱（DSIMS）是一种极为灵敏的表面分析技术，通过高能量的一次离子激发样品表面，溅射出微量的二次离子，并对二次离子种类、含量、深度分布等进行分析，反映材料表面、界面、薄膜在微纳尺度内的元素结构和成分信息。

DSIMS 7f-Auto具有出色的分辨率、极低的检出限、分析区域小、动态检测范围大等特点，广泛应用于半导体材料、光伏原材料、LED器件、绝缘体/半绝缘体、多层薄膜、冶金材料等多领域。

高纯材料表征专家高钟伟将带来“DSIMS在多领域材料中的表面痕量元素分析”直播课程，为您献上DSIMS实验室7f-Auto仪器原理、仪器结构、仪器能力、服务项目介绍，材料表面痕量元素分析及案例分享。

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逸出气体分析TGA-FTIR-MS&GCMS 在材料领域的应用

TGA-FTIR-MS&GCMS 联用技术通过TGA 在特定气氛下，样品随温度或时间质量变化，气体逸出后，根据不同的测试需求被引入FTIR,MS或GCMS.监测逸出气体组成和响应.适合于以下情况：

● 材料热降解逸出气析

● 阻燃机制分析

● 催化剂生效机制及再生

● 煤粉干馏

● 消防相关研究

● 沥青性能分析

● 橡胶密封件分析

● 印刷电路板基材质量控制.....

技术工程师盛李建将带来“逸出气体分析TGA-FTIR-MS&GCMS 在材料领域的应用”直播课程，为您带来TGA-FTIR-MS&GCMS是今年来在高分子材料分析领域应用较广泛的精密设备，本次将对此设备的原理及仪器构造进行全面介绍，并针对设备在高分子材料分析领域应用进行精彩解析。

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【微诊断™】消费电子类产品失效问题的材料学系统分析方法

伴随着人们对美好生活的追求，消费电子产品领域的创新异常活跃，消费电子产品与人们生活的关系越来越密切。

创新驱动产品发展的同时也带来了新的问题：同一套材料生产的零部件在应用于新的产品中会发生不可预期的新问题；材料出现析出、腐蚀、污染的问题，会使产品外观、结构、甚至性能不良等。

微谱失效分析领域专家杨宝麟将从材料学系统的视角梳理消费电子类产品的失效问题，并通过大型仪器的应用，带您了解材料成分及工程表界面问题的研究方法与解决方案等。

我们通过微诊断的方式研究材料出现问题时的各种行为，帮助产业界人士梳理消费电子产品材料研发、选型、生产、质控、应用过程中的失效问题，为专业人士提供综合解决方案。

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聚焦离子束显微镜解密器件失效

基于聚焦离子束的加工能力，利用离子束对材料进行铣削，结合电子束成像和能谱分析，可实现样品内部缺陷、异物、镀层均一性等的可视化分析；此设备广泛应用于半导体器件失效分析、金属材料研发及光学镀膜等多领域。

技术工程师滕胜杰将带来“聚焦离子束显微镜解密器件失效”直播课程，为您献上FIB设备测试原理及仪器能力介绍，半导体失效截面分析、FIB-TEM制样、三维重构等案例分享。

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AFM测试分析技术及其在材料表征中的应用

原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。相比电镜，原子力样品对样品没有导电性的要求且能反馈样品表面的高度信息。结合具有不同性质的探针，可以获取样品表面的电学，力学，磁学等信息。