用户前沿丨厦大解荣军与国科大董国艳LPR：微区荧光光谱用于量子点像素阵列的均匀性与稳定性评价

近日，厦门大学解荣军教授团队与中国科学院大学董国艳副教授等人提出了一种多功能微区荧光光谱系统（MFS）来表征量子点色彩转换膜像素阵列的发光均匀性和光热稳定性。该系统配备了激光扫描共聚焦显微镜、单光子计数器、CCD光谱仪和温度控制器，可以记录量子点薄膜中每个微区与温度相关的光致发光强度和荧光寿命的图像和数据，测量薄膜中任意微区的荧光光谱，以及与时间相关的荧光强度变化曲线。使用该系统评估了喷墨打印制备的红光CdSe/CdS/ZnS量子点色彩转换膜像素阵列的均匀性、光稳定性和热稳定性，尤其是对于均匀性，MFS观察到了普通荧光显微镜无法观察到的咖啡环现象，并提出了“荧光均匀度UI”这一概念及其计算公式来定量评价薄膜的均匀程度，最后通过调控量子点墨水的组分来引入马兰戈尼流，解决了量子点薄膜的咖啡环效应。未来MFS与人工智能和机器学习相结合，定会实现对用于Micro-LED的量子点色彩转换膜的“巨量检测”。

解荣军教授、董国艳副教授团队长期致力于光电材料与器件应用研究，本项成果不仅拓展微区光谱的应用，也为量子点光转换薄膜和Micro-LED发光均匀性的快速检测提供新的研究思路。厦门大学材料学院石澍晨博士研究生为本文第一作者，厦门大学材料学院解荣军教授、宣曈曈助理教授以及中国科学院大学董国艳副教授为本文通讯作者。

上述研究工作得到了国家自然科学基金委员会项目（U2005212，51702373，52172157）、福建省自然科学基金面上项目（2020J01035，2021J01042）、深圳市科技创新委员会基础研究重点项目（JCYJ 20200109144614514）以及中央高校基本科研业务费专项资金（2072020075）的支持。