2021-01-22 09:03:59 北京力高泰科技有限公司
AccuPAR LP-80 可以快速、直接地测量冠层内的光合有效辐射。当打开机器后,可以实时的进行光合有效辐射测量,同时 得到叶面积指数(LAI)。LAI是冠层内所有叶片单面面积与冠层对应的地面面积的比值。最初直接测量LAI的步骤如下:测量冠层内每一片叶片的叶面积,然后除以冠层对应的地面面积。这种方法非常耗时,且对冠层具有破坏性,因此目前已经很少应用。
目前,多种方法可以测量LAI,例如:半球成像法和光学传感器法。LP80是通过测量光合有效辐射来计算LAI,在计算过程中,需要使用一些相关参数,其中一个非常重要的就是X,即冠层的叶片分布角度。
X 含义
X就是叶片角度分布系数(canopy angle distribution parameter)。它是一个冠层结构参数,描述了叶片在冠层内的空间分布状态。如果叶片在冠层内的分布是随机的,我们就可以认为叶片呈球形分布。即冠层内的每一个叶片的移动都不会影响整个冠层的叶片结构。呈球形分布的叶片X = 1。在自然状态下,许多情况下,X > 1或X < 1。
一些文献已经公布了某些植物的X值(见下表,来自LP80说明书)
但是不同植物之间该值差异很大,因此就非常有必要确定特定植物的X值。说明书上公布的X值都在小数点后两位,但由于冠层结构变异较大,实际上这种精度的X值是得不到的。LAI计算非常重要,但LP80计算出的也是一个近似值。此过程中会使用X值,因此准确的X值更加有利于计算LAI。但在测量过程中使用不是很精确的X,在其他条件的调节下,也有可能测量出准确的LAI(如下图)。
图中显示LP – 80的测量误差、天顶角与叶片分配系数(X)的关系。其中设定X=1,但是实际测量时X值如图所示。假设在全日光下(fb = 0.8),发现测量误差与天顶角密切相关。大部分的测量是在天顶角大于30度的情况下进行的。如果在全日光时,如果不设定冠层叶片分布系数,那么误差至少是20%,该误差值随着fb的降低而降低,最后如果fb=0,则误差降低为0。如果叶片分布系数的估算精确度在10%,那么,在天顶角为0时,LAI的误差将会降低至5%,甚至更低。
估算步骤:
① 在测量植物样地,选择一个具等高等宽,且具有代表性的冠层。
② 确定垂直林窗的比率(t0),即从垂直冠层角度看,冠层上层光强透射的百分比。
③ 确定水平林窗的比率(t90),即从水平角度透过冠层光强的百分比。
例如,在一个垂直叶片分布的冠层中,在水平方向上,冠层可以透过10%的光,遮挡90%的光,(t90) = 0.1。X可以用下面公式表示:
X = ln (t0) / ln (t90) (1)
从上面这个方程可知,如果叶片完全垂直,则X = 0。如果叶片呈球形分布,在水平和垂直树冠的方向上各有10%的光透过,则t0= t90 = 0.1,则X = 1。
但在实际操作时,估计一个典型冠层内透光的百分比是比较困难的。使用背景布(例如:1 m × 1 m)来估算上述参数相对比较容易:首先选择一个需要研究的典型冠层,其包括被研究冠层的所有典型特征,例如,如果研究行栽农作物,冠层特点包括从一个行中心跨行到另一个行中心。把冠层想象为一个立方体,首先估计t90,把背景布放在冠层后面,操作者站在冠层前面,通过观察背景布上的可见面积来估算出水平方向上的透光比率。然后再估算t0,把背景布放在冠层上部或者下部,操作者在背景布的对面去观察看到背景布的面积,来估算t0。然后利用方程1可以得到C值,在对LP80进行设定时,就可以使用该X值。
“AccuPAR植物冠层分析仪”详细技术指标
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