网络研讨会丨基于赛默飞Avantage软件的XPS成像与深度剖析技术介绍

XPS作为一种高效的表面分析手段，不仅广泛应用于化学分析、材料应用开发、物理理论研究等学术领域，对于机械加工、印刷电路、镀膜材料工艺控制和纳米功能材料开发等工业领域，XPS也能提供全方位的解决方案。

Thermo Scientific™ Avantage软件是所有赛默飞XPS系统（K-Alpha、Nexsa和ESCALAB Xi+）均使用的表面分析软件，可充分发挥电子能谱仪的全部性能。Avantage软件作为最佳的数据分析系统，将仪器硬件控制、图谱采集、数据处理和报告导出功能集于一体，能够提供高精度、高准确性的分析结果和可靠的仪器控制能力。无论是在专业研究实验室使用还是在一个多用户环境中，您都离不开灵活、直观而又专业的Avantage软件，助您获取更丰富全面的样品信息。

因此我们诚邀您参加此次网络研讨会！将带您了解如何使用Avantage软件，对您的样品进行更全面的XPS成像与深度剖析。

网络研讨会时间

场次1

8月11日，星期二 | 北京时间 20:00

场次2

8月12日，星期三 | 北京时间 00:00

研讨会热点内容

如何使用合适的功能来查看和处理多层数据，如深度剖析与XPS成像

如何使用主成分分析方法（PCA）来分析XPS成像数据

如何对深度剖析数据进行分峰拟合，以获取样品中不同元素随深度的变化信息

参与方式

扫码报名

8月11日，星期二| 14:00 CEST

（北京时间 20:00）

扫码报名

8月12日，星期三| 09:00 PDT

（北京时间 00:00）

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