恭喜美国麦克仪器公司产品入围2013年科学仪器优秀新品

在媒体举办的2013年科学仪器优秀新品活动中，美国麦克仪器公司所申报的新品凭借其卓越的技术以及高出同类产品的优越性能在本次评选活动中脱颖而出，成功入围候选名单。

入围2013年度优秀新产品的是：ASAP 2460、TriStar II Plus、SediGraph Ⅲ Plus

ASAP 2460 系列产品简介： ASAP 2460多站扩展式表面积和孔隙率分析仪为实现高性能与高通量，采用了独特的模块化系统。ASAP 2460孔径分析仪,孔径测定仪基本配置是一个双站的主控模块，当连接另外的双站模块后可扩展成四站或者六站分析仪，该仪器还包含MicroActive软件，结合用户自定义的报告，能够以交互方式用各种方法分析等温线数据。

产品优势：

· 全自动扩展式分析模块，优化的样品浏览界面

· 高测试量，两站、四站或者六站可选

· BET比表面积测量30分钟内完成

· ASAP 2460孔径分析仪,孔径测定仪可选在最大体积增量进气或在特定压力范围内进气

· 分析温度可以输入、计算或测量

· 平衡选项：允许用户对等温线不同部分指定平衡时间

· 低比表面积和微孔选项

· 创新的MicroActive软件

· 包含压汞数据的文件添加叠加删除功能（最多25 个）

· 能够在碳微孔分析中同时利用CO2与N2两个等温线通过NLDFT理论来计算全范围孔径

产品特点：

· 所有分析站可独立或同时操作，用户无需考虑分析阶段，在任何时间可装载和卸载样品。一个分析完成另一个分析可立即开始

· ASAP 2460孔径分析仪,孔径测定仪可连续测试60h以上而无需充填杜瓦瓶，对于由于平衡每个数据点从而需要更长时间完成分析的高分辨率吸附/脱附等温线来说，可实现无人员介入条件下分析

· 使用主控模块和两个附加模块，可在30min内完成6个样品的BET比表面积平行分析

· 伺服控制定量给气和排气通过减少过量给气提供更高程度的气体管理和数据点收集速度控制

· ASAP 2460孔径分析仪,孔径测定仪多达五种不同吸附气体与测量死体积用的氦气可同时连接到分析仪。每个分析站都配有不同体积的样品管

· 大容量杜瓦瓶和专利等温夹套确保长时间分析过程中样品管和P0管不同部位均一的温度。P0值可输入，也可持续测定，或在特定时间间隔测定

· ASAP 2460孔径分析仪,孔径测定仪直观的MicroActive软件结合用户自定义的报告，能够以交互方式分析等温线数据，减少获得比表面积和孔隙度结果所需的时间。在BET、t-plot、Langmuir和DFT理论模型中，用户可通过图形界面选择数据范围

·创新的仪表板显示器，实时仪器性能指标和维护情况显示

TriStar II 系列产品简介：

直观和强大的操作软件提供多种数据存储、网络共享和打印功能。而且，软件最突出的特点是扩展了数据处理和报告范围。 · 同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟

· TriStar II孔径分析仪,孔径测定仪可用于微孔分析

· 标配一个专用的饱和压力接口，可选多种规格杜瓦瓶以及样品管

· TriStar II孔径分析仪,孔径测定仪可升级成高真空系统，用于低比表面积以及微孔的测试

· 可以测定、计算或手动输入自由空间

· TriStar II孔径分析仪,孔径测定仪可以使用任何气体，死体积测试可以不使用氦气

· 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务，确保该系统的准确性、可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性

· TriStar II孔径分析仪,孔径测定仪配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹，以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定

· 仪器可同时进行三个样品的分析，满足测试量大的用户，不是多个工作站的"排队分析"，每个分析站都配有独立的传感器，保证三个分析站分析的同时进行

· TriStar II孔径分析仪,孔径测定仪配备了大容量杜瓦瓶，结合专利的液氮等温夹，保证至少60小时无人介入操作。最大无上限的连续分析

TriStar II Plus 型号新功能：

· 独特的耐腐蚀的不锈钢歧管，用于高精度的气体管理

·可选氪气选项，以用于非常低的比表面测试

· 直观的MicroActive 软件使用户能够用交互方式分析等温线数据，更快地获得比表面与孔径数据

· 更强的能包含压汞数据的文件添加叠加删除功能（最多25 个）

· 用户自定义报告选项允许直接建模

· 强大的Python 脚本语言，允许用户开发TriStar II Plus 软件标准报告库扩展程序

· 创新的仪器显示屏，方便的仪器性能指标和维护信息实时显示功能

· 能够在碳微孔分析中同时利用CO2 与N2 两个等温线通过NLDFT 理论来计算全范围孔径

SediGraph III plus产品简介

新一代的粒度仪将成熟的SediGraph分析技术与先进的检测仪器功能相结合，提供卓越的重复性、准确性和重现性。 SediGraph III粒度仪通过X射线吸收测量样品质量，利用国际标准的沉降法测量粒度，无需建模。该产品的技术已成为全球造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。

SediGraph粒度仪使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下，报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。

技术特点

· 粒度仪高精度X射线管，7年保修

· 简化的泵系统，确保快速分析并易于维护

· 低噪音，提供安静的工作环境

· 维护提醒装置，根据已分析的样品数自动提醒维护

· 混合室温度电脑控制，提高重复性与重现性

· 多功能报告系统可提供包括颗粒沉降速度和粒度等多种数据显示选项

· 操作软件可连接网络，提供

· SediGraph粒度仪完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等国际标准