为精密测量提供更多选择：滨松推出MPPC（SiPM）及模块新系列

众所周知，光电倍增管作为探测器，是精密探测的不二选择，不过，一种新型半导体光电探测器的出现，为这样的应用提供了更多的选择可能。那就是MPPC，即硅光电倍增管（SiPM）。

硅光电倍增管是由许多个在盖革模式下工作的APD组成，因此，根据它的工作原理，也可被称为MPPC（multi pixel photon counter）。虽然从本质上讲，MPPC一个光半导体器件，但是它有着优良的光子计数能力，可用于检测在光子计数水平下极弱光的应用场合。可广泛应用于医疗、环境、工业、学术等方面。

这种新型的探测器具有可在低电压下工作的优点，并有着高增益、高光子探测效率、快速响应、优良的时间分辨率和宽光谱响应范围等特点。除此之外，也有着抗磁场干扰性和耐机械冲击性，这都是固体器件所独有的优势。

但对于普通的MPPC来讲，在用于精密探测时，一定程度上可能会受到后脉冲和串扰的困扰，但滨松在2015年末推出了一系列适用于精密测量的MPPC及模块，在延续前代产品高光子探测效率的同时，在串扰，后脉冲与暗计数方面有了极大的改善。

S13360系列中新增了专用于精密测量的产品

MPPC模块C13365（左）及C13366（右）

检测到光子的像素可能影响其他像素，使其他像素产生与输出脉冲类似的脉冲，这种现象被称为串扰。用于精密测量的MPPC采用抑制串扰发生的结构，与前代产品相比，大大减少了串扰的发生（44%下降到3%）。

当MPPC检测到光子时，延迟信号可能与输出脉冲分别输出，这些信号被称为后脉冲。精密测量MPPC后脉冲可维持在较低水平。

材料和晶圆工艺技术的改进，使暗计数与前代产品相比下降了约一半。

MPPC工作电压（Vop）可以表示为击穿电压（Vbr）+过电压（Vov）。随着工作电压增加，增益和光子探测效率提高，但与此同时，串扰和暗计数等噪声成分也会增加。在以前的产品中，增加工作电压令噪声成分显著增加，而用于精密测量的MPPC则大大改善了这一点，这也使得新产品可用于高电压的工作，从而获得更高的增益和更好的光子探测效率。

MPPC（硅光电倍增管）的出现为精密探测提供了一种新的可能，不过面临具体的应用需求，在探测器的选择上我们依然需要进行专业的判断。

滨松同时可以为您提供这样专业的探测器选型帮助，以及定制化服务。凭借拥有种类齐全、性能各有特点的光电探测器，以及晶体、集成电路，我们可从更为专业和客观的角度，为精密探测需求，寻求最合适的解决方案。 

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