网络讲座一：焦平面阵列红外成像技术在材料快速分析和质量控制中的应用

安捷伦诚邀您参加媒体在线讲座。我们将向您呈现使用焦平面阵列红外成像光谱仪（Cary620）快速实现以下具体应用：

· 高分子复合材料组分分析与鉴定

· LCD屏幕组件中的亚显微杂质颗粒物的鉴定

· 印刷电路板上的污染物表征

· 合成聚合物和橡胶中的污染物分析

应用举例：

1.缺陷和故障分析

2.多层膜聚合物材料鉴定

目标听众：

对分子光谱、傅立叶变换红外光谱和红外成像技术感兴趣的科技工作者，从事聚合物分析和检测的技术人员，电子和半导体行业从事故障和缺陷分析的技术人员，聚合物生产行业从事质量控制、污染物分析和故障排查的技术人员。

内容简介：

傅立叶变换红外（FTIR）是一项无损的分析技术，能够对聚合物材料的化学组成进行快速鉴定与质量监测。此项技术通过测定样品的红外吸收提供其特征化学指纹谱图，根据测试样品的特征及使用者应用的需求，有多种FTIR仪器可供选择。其中红外成像技术已经逐渐成为人们关注的热点，这项技术将直观成像的显微镜技术与红外光谱相结合，使得微米级别材料的特性表征更加直观。当对聚合物尤其是多层膜样品进行分析时，传统红外显微镜通常需要几个小时甚至几天的时间完成样品的前处理以及谱图的采集工作。与此同时，对于膜层厚度低于5um的样品，光阑位置存在无法精确定位的问题，进而导致测量失误。值得关注的是当采用焦平面阵列检测器时，谱图的采集工作不仅可以缩短至数分钟以内，并且能够完成对1-2um样品的精准测量。

主讲人：

张晓丹

分子光谱应用工程师

时间：

2015年7月14日 14:00-16:00

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