《Nature Photonics》南开大学刘永胜、陈永胜:埋入界面自发钝化 钙钛矿PCE突破 26.31%

2025-12-02 09:40:53 光焱科技股份有限公司




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埋入界面自发形成二维钙钛矿:提升结晶均匀性与缺陷钝化的光伏策略




该研究提出一种策略,通过在前驱体溶液中引入特定有机阳离子卤化物盐,诱导钙钛矿太阳能电池(PSCs)埋入界面自发形成近乎纯相的二维钙钛矿层,从而同步提升钙钛矿薄膜的结晶均匀性与界面缺陷钝化效率。


研究背景与核心问题

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现状与瓶颈

实现钙钛矿薄膜在顶部与埋入界面上的均匀结晶,对于充分发挥其光伏潜力具有重要意义,但这仍是一项未解的挑战。由于典型的自上而下(top-down)结晶过程,埋入界面的结晶质量通常不如顶部表面,导致较高的缺陷密度和非辐射复合损失。此外,钙钛矿与底部层之间热膨胀系数不匹配,会在埋入界面产生显着残余应变,进一步促进缺陷形成。尽管埋入界面对器件性能具有关键影响,但现有的结晶控制策略大多专注于体相材料本身。

团队与期刊

该研究由南开大学的陈永胜、刘永胜教授团队主导,并发表于学术期刊Nature Photonics

改进路径与核心成果

研究团队提出一步法策略,将有机阳离子卤化物盐(如2,3-dihydroisoindole hydroiodide, DHIII)引入钙钛矿前驱体溶液中。DHIII具有低偶极矩和平面刚性结构,这些特性使其在结晶过程中能够聚集并向下迁移至底部界面,自发形成二维钙钛矿层。该埋入的二维钙钛矿层既能调控结晶动力学,又能有效钝化界面缺陷。采用此策略后,n-i-p架构器件的功率转换效率(PCE)达到26.31%,经认证的PCE26.02%(图4a



J-V、Voc与EQE表征分析

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J-V曲线测量条件与结果

器件的光伏特性(J-V曲线)采用Keithley 2400源表在标准AM1.5G照度(100 mW cm^-2)下测量。光源强度由EnlitechSS-F5-3A模拟器(SS-X)提供,并通过标准硅参考电池校准,该校准可追溯至NREL。测量采用光圈掩模定义器件有效面积(小面积器件为0.0421 cm^2)。

冠军器件的J-V曲线(图4a)显示,DHIII处理器件的性能参数为:Voc 1.196 VJsc 26.20 mA cm^-2、填充因子(FF83.96%PCE26.31%。对照组的最佳器件性能则为Voc 1.165 VJsc 26.06 mA cm^-2FF 81.40%PCE 24.73%

数据统计(图4b)证实DHIII处理器件的平均效率(25.80%)显着高于对照组(23.86%)。

Voc提升与复合途径分析

DHIII处理器件的Voc提升(由1.165 V增至1.196 V)主要归因于界面缺陷减少和非辐射复合受到抑制。光强依赖性Voc测量结果亦证实,DHIII器件具有较低的复合率。通过空间电荷限制电流(SCLC)方法分析,DHIII处理薄膜的陷阱填充极限电压(V_TFL)从对照组的约1.12 V降至约0.81 V,计算结果显示陷阱密度从约1.35×10^16 cm^-3降至约9.79×10^15 cm^-3。该数据提供了直接证据,证明埋入的二维层有效钝化了深层缺陷。(图S17C21C

EQE光谱与Jsc检核

器件的外量子效率(EQE)曲线(图S17D)使用EnlitechQE-R太阳能电池光谱响应测量系统测量。DHIII处理器件的EQE曲线与对照组相比,吸收边缘略微红移,积分电流与Jsc实测值高度吻合。Jsc略微增加(从26.06 mA cm^-2增至26.20 mA cm^-2)是DHIII引入后薄膜带隙轻微窄化和应变松弛效应的结果


辅助光电学表征:PL与载流子动力学

为了进一步解析埋入界面的质量,研究进行了光致发光(PL)和时间分辨光致发光(TRPL)测量。

对照组薄膜的埋入界面PL发射显着较弱,且TRPL载流子寿命较短,表明其缺陷密度和非辐射复合损失较高。相对而言,引入DHIII后的目标薄膜,其埋入界面的PL强度和载流子寿命几乎与顶部表面相同(图1i1f,证实了埋入界面结晶质量与钝化效果的显着提升。

瞬态光电压(TPV)和瞬态光电流(TPC)测量也显示,DHIII处理器件的载流子寿命更长,提取更快。在探测埋入SnO2界面的SnO2/PVSK堆叠中,DHIII引入的载流子寿命提升了约五倍(图S921AB


结论与研究成果

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汇整主要发现与性能

该研究成功展示了通过分子工程设计DHIII阳离子,实现一步法在钙钛矿埋入界面自发形成近乎纯相n=2二维钙钛矿层的策略。


该埋入二维层(1)缓冲了热失配引起的应变;(2)调节了结晶动力学,促进了更大的晶粒和优化的晶体取向(如垂直载流子传输的优选面取向);(3)有效钝化了界面陷阱,抑制了非辐射复合。最终,DHIII处理的n-i-p器件达到26.31%的高PCE,且该增益与器件的沉积方法(一步法/两步法)和带隙组成(1.55 eV1.70 eV)无关。(图2


核心贡献与局限

研究团队解决了长期困扰钙钛矿光伏领域的埋入界面质量不均问题。VocFF的显着提升直接体现了DHIII成功钝化界面缺陷的效果。该方法不仅提升了效率,还大幅增强了稳定性:未封装器件在连续光照(55°CN2环境)1,000小时后仍保持初始PCE95%;环境稳定性测试(35%相对湿度)显示,储存约2,000小时后仍保持95%的初始PCE(图4de

潜在影响与验证建议

该研究强调了有机间隔阳离子的分子设计(如低偶极矩和平面刚性)在控制埋入二维钙钛矿分布方面的关键作用。这为未来高性能PSCs的界面工程提供了一个有前景的方向。后续研究应着重于将该策略应用于叠层电池架构中的宽带隙顶电池,进一步验证埋入二维层在极限条件下(如高温或高湿度)的长期热光稳定性,并探索在工业化制程中,如狭缝涂布(slot-die coating)等方法,实现埋入二维层的自发形成。




原文信息




文章标题:Spontaneous 2D perovskite formation at the buried interface of perovskite solar cells enhances crystallization uniformity and defect passivation

出处(期刊名称):nature photonics

出版日期:2025.11.24

DOIhttps://doi.org/10.1038/s41566-025-01797-9


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