网络研讨会 | 利用X射线衍射(XRD)、X射线三维显微镜(XRM)及电子背散射衍射(EBSD)技术对电池组件与材料进行结构分析

2025-11-03 13:10:37 布鲁克X射线产品、电子显微镜分析仪器(Bruker AXS)



探索先进分析技术如何塑造电池创新的未来

欢迎参加免费60分钟在线研讨会,共同探讨如何将XRDXRMEBSD解决方案相结合,深入解析电池行业关键材料与工艺的奥秘。

预期内容?

电池是现代科技的命脉,为从智能手机到电动汽车的各类设备提供动力。确保电池的质量与安全性至关重要,可有效预防故障与安全隐患。贯穿电池全生命周期的质量控制涵盖对阳极、阴极、电解液、隔膜材料以及待回收材料的检测。

作为XRFXRDXRMEBSD仪器的制造商,我们致力于比较这些不同分析技术如何解决电池组件的各类分析问题:

  • XRD:提供平均晶体结构和微观结构信息

  • EBSD:实现纳米级相位与晶体分布分析,提供定量晶粒参数,并帮助建立微观结构与电池性能的关联性

  • 3D X射线三维显微镜/Micro-CT:实现内部结构的无损三维可视化

作为我们先前网络研讨会的延伸,该研讨会聚焦于不同尺度下电池组件的元素表征。

在本次研讨会中,我们将展示采用不同分析技术对电池前驱体材料及各类制备电极所获得的成果。我们将从细节分辨率、样品体积/面积、空间分辨率及测量时间等维度阐释分析结果,同时探讨不同技术背后物理原理所导致的普遍局限性。理解这些差异有助于针对特定分析需求选择最适宜的方法。

想了解更多?马上注册参加我们的在线研讨会。

时间:

2025年11月18日16:00  (北京时间)。

注:立即注册锁定席位,即可获取完整会议录像、演示文稿及应用指南。

    语言:
    英语
    费用:
    免费
    名额:
    不限
    报名截止时间:
    2025年11月15日。报名成功后,报名邮箱会收到确认邮件。

    报名方式:

    1, 移动端:

    2, 电脑端:

    https://events.ringcentral.com/events/structural-analysis-of-battery-s1/registration?utm_campaign=Signature&utm_source=Outlook

    主讲人:








    本文使用权归布鲁克(北京)科技有限公司所有,未经授权请勿转载。如需转载,请与工作人员联系并注明出处。


    • 客服电话: 400-6699-117 转 1000
    • 京ICP备07018254号
    • 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
    • 京公网安备1101085018
    • 客服电话: 400-6699-117 转 1000
    • 京ICP备07018254号
    • 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
    • 京公网安备1101085018

    Copyright ©2007-2026 ANTPEDIA, All Rights Reserved