- TESCAN S9000X是一款氙(Xe)等离子超高分辨双束可以获得 3D 重建,实现整个焊球、TSV、金属合金等样品的独特微观结构,成分和晶体学信息
- TESCAN 钨灯丝扫描电镜 VEGA具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟的操作软件,用户界面友好等特征
- TESCAN 钨灯丝扫描电镜 VEGA可用于电镜控制、样品台导航
- TESCAN 钨灯丝扫描电镜 VEGA包含了静态和动态图像扭曲补偿技术的超快扫描系统,内置的编程软件等
- S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析
- Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜可选水循环系统、Waterfall 探头、在线温度控制
- Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜在AMI应用于非破坏性内部检测和分析上
- Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具
- 布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980具有更快的数据采集,更高的精度和更好的重复性
- 布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980用于多种纳米力学和纳米摩擦学表征的自动化、高通量测试设备
- Bruker微纳压痕划痕测试仪CETR-Apex可根据用户定义不断增加载荷,检测薄膜、涂层和块体材料的划痕硬度和划痕黏附力
- Bruker微纳压痕划痕测试仪CETR-Apex能在各种环境条件下执行多重检测,获取纳米级数据
- Hysitron TS 77 Select 纳米压痕仪具有快速力学性能成像和大数据统计分析的快速压痕功能
- QC3 高分辨率X射线衍射仪广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN,
- X射线检测系统可提供市场主导型,高效的清晰实时影像的产品检测
- X射线检测系统适应场变化的高性价比生产性设备平台
- EVG800系列键合机:EVG810LT(低温)等离子激活系统广泛地应用于MEMS微机电系统/微流体器件
- X射线单晶衍射仪适用于化学结晶等典型用途
- PICOSUN原子层沉积设备ALD可用于镀膜,锂电池、医疗等行业等粉末镀膜
- PICOSUN原子层沉积设备ALD可用于在激光器和功率器件的应用
- PICOSUN原子层沉积设备ALD可用于在集成电路上的应用
- PICOSUN原子层沉积系统ALD R-200基础版可用于透镜,光学器件,珠宝,硬币和医疗植入物
- Centrotherm 卧式热反应系统适合低产量、多工艺适应性加工要求的研发或小批量生产
- Centrotherm 卧式热反应系统适用于中等生产能力和高工艺性能用户,是一款安全、可靠、易于维护的卧式扩散炉平台
- Centrotherm 卧式热反应系统可用作常压CVD、LPCVD、PECVD、扩散、氧化、退火等工艺过程
- Centrotherm 卧式热反应系统具有小体积、高工艺性能等特点
- Centrotherm 快速热工艺设备-c.RAPID 150/RTP 150可用于6寸晶圆和5寸石墨基板的加热。可在15分钟内更换基板的尺寸和类型
- Centrotherm 快速热工艺设备-c.RAPID 150/RTP 150可用于生产和研发用的单晶圆工艺设备
- Centrotherm 快速热工艺设备-c.RAPID 150/RTP 150用于高性能、小占地面积、低成本高工艺灵活性的工艺场合
- Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT可用于在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域
- Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-X3/X8可用于触摸屏行业及数据存储行业等
- Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K 通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量
- ContourGT-K 3D光学显微镜(三维光学轮廓仪)广泛应用于LED、太阳能电池、薄膜材料
- Bruker原子力显微镜-- Dimension Icon可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息
- Bruker原子力显微镜-Dimension Icon广泛应用于科研和工业界
- Bruker原子力显微镜-- Dimension FastScan可用于应用于科研和工业界,涵盖了聚合物材料表征可用于金属/合金/金属蒸镀的性质研究,液晶材料性能表征
- SEMILAB-全光谱椭偏仪GES5E 可用于光波导、减反膜、III-V族器件、MEMS、溶胶凝胶
- SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于光电行业:光波导、减反膜、III-V族器件、MEMS、溶胶凝胶
- LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)可用于太阳能电池片减反射膜的厚度、折射率和消光系数测试
- LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)可测量减反射膜厚度、折射率和消光系数等光学特性
- LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)应用于测试具有绒面结构的晶体硅减反射膜的厚度和光学特性
- Jordan Valley Delta-X多功能的X射线衍射设备可灵活应用于材料科学研究
- X射线单晶衍射仪适用于结构生物学的革新性液态金属 X 射线源
- PICOSUN原子层沉积系统ALD R-200基础版可实现无颗粒工艺,适用于晶圆,3D对象和所有纳米级特征上的多种材料
- Centrotherm 快速热工艺设备-c.RAPID 150/RTP 150
- Centrotherm 快速热工艺设备-c.RAPID 150/RTP 150主要用于满足研发和小规模量产所需的多种工艺要求
- 松下-Panasonic贴片机 MD-P200可以实时监测XY方向的散布图,具有先进的顶针高度校准系统
- MD-P200US贴片机具有先进的顶针高度校准系统,可以根据客户的产品形式的不同9为客户提供灵活的机器硬件的灵活搭配
- MD-P300贴片机可用于主要应用于MEMS、COMS传感器、功率器件、LED
- Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT可用于半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域
- Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-X3/X8可用于广泛应用于科研以及半导体行业;LED行业、太阳能行业
- Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K 对LED行业、太阳能行业
- Bruker布鲁克ContourX-500 3D光学轮廓仪可以完全编程,以在一定角度范围内测量表面特征
- Bruker布鲁克ContourX-500 3D光学轮廓仪可以直观地访问广泛的预编程过滤器和分析库
- Bruker布鲁克ContourX-500 3D光学轮廓仪从精密加工表面和半导体工艺的QA / QC计量学到眼科和MEMS器件的R&D表征
- Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)用于精密加工的表面,厚膜,半导体,眼科, 设备,MEMS和摩擦学应用
- Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)可用于太阳能、半导体和 器械领域
- Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)通过使用多个目标和集成的特征识别功能,可以在各种视野内以亚纳米级的垂直分辨率跟踪特征
- Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)可用于航空航天、高亮度LED
- Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)可用于精密加工制造类应用的监控,在汽车
- ContourGT-K 3D光学显微镜(三维光学轮廓仪)可视工作流以及广泛的用户定义的自动化功能相结合,可进行快速,全面的数据收集和分析
- ContourGT-K 3D光学显微镜(三维光学轮廓仪)满足基本计量和成像需求的实验室的理想测量系统
- MultiMode 8HR扫描探针显微镜大气或者溶液环境中,MultiMode8都能够完成样品检测
- Bruker原子力显微镜-Dimension Icon可用于涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,液晶材料性能表征
- 聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点
- Hysitron TS 77 Select 纳米压痕仪以轻松实现局部微观结构、界面和薄膜的摩擦性能测试
- 海思创TI 980 TriboIndenter纳米压痕仪可用于纳米压痕与微米压痕、纳米划痕、纳米摩擦磨损
- 微流控芯片加工:EVG 610单面/双面光刻机可用于纳米压印,化合物半导体器件和功率器件等领域
- PICOSUN原子层沉积设备ALD可用于打印头,传感器和麦克风
- Bruker原子力显微镜-- Dimension Icon可用于金属/合金/金属蒸镀的性质研究,液晶材料性能表征
- Bruker原子力显微镜-- Dimension FastScan可用于集成光路测量,材料力学性能表征
- Bruker原子力显微镜-- Dimension Edge可用于薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作
- Bruker原子力显微镜-- Dimension Edge可用于金属/合金/金属蒸镀的性质研究,液晶材料性能表征
- S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜也可用于XeF2、H2O等用于增强刻蚀,或其它定制气体
- S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜用于导电材料沉积,SiOx用于绝缘材料沉积
- S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求
- S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜具有强大的扩展分析能力,并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作
- 聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作
- 聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA具有显微镜控制、样品台控制、图像采集、处理与分析等
- 聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA带有静态和动态图像扭曲补偿技术的超高速扫描系统,内置的编程软件等
- 聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA适应各种各样的SEM应用与当今研究和产业的需求
- Nordson Dage Quadra™ 5 X-射线检测系统用于制造电子产品的样品
- Nordson Dage Quadra™ 5 X-射线检测系统用于 BGA 质量分析、凸点直径和圆度、焊丝冲弯、焊接和 QFN 空隙的内置自动化工具
- Nordson Dage Quadra™ 5 X-射线检测系统用于创建μm 级精度 3D 模型的μCT 镜台
- Quadra™ 7 X-射线检测系统 / XD7800NT用于创建 μm 级jing度 3D 模型的 μCT 镜台
- Quadra™ 7 X-射线检测系统 / XD7800NT可用于医疗设备和 LED 制造等在内的广泛行业使用
- Quadra™ 7 X-射线检测系统 / XD7800NT可用于航空航天电子产品检测
- Quadra™ 7 X-射线检测系统 / XD7800NT可用于汽车、能源
- Bruker微纳压痕划痕测试仪CETR-Apex广泛应用于检测涂层和块体材料的各种机械性能
- 微流控芯片加工:EVG 610单面/双面光刻机可用于SOI基片制造,3D封装