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Auto SE是一种新型的按键式全自动薄膜测量分析工具,仅需简单的几个按键操作,即可完成全自动测量和分析。仅几秒钟即可完成样品分析,并提供完整的样品堆叠特性报告-包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性。
1. 光谱范围:450-1000 nm
2. 多种微光斑自动选择
3. 专利光斑可视技术,可观测任何样品表面
4. 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm
5. 70度角入射
6. CCD探测器
椭圆偏振光谱入门手册——测量膜厚、光学常数的强大工具
您可了解: 1. 椭圆偏振光谱的概念及应用领域 2. 适用的样品及可获取的信息 3. 常见的椭偏仪类型及优势分析 4. 测量、数据分析时的常见问题 | |
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一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
1. 液晶调制技术,无机械转动部件,重复性,信噪比高
2. 专利技术成像系技术,所有样品均可成像,对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.
3. 反射式微光斑,覆盖全谱段,利于非均匀样品图案化样品测试
4. 全自动集成度高,安装维护简便
5. 一键式操作软件,快速简单
6. 自动MAPPING扫描,分析样品镀膜均匀性
椭偏仪堀场HORIBA HORIBA 一键式全自动快速 AUTO SE & SMART SE 椭圆偏振光谱仪 - 中文,Auto SE
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