NPFLEX 3D NPFLEX 三维表面测量系统3D 光学布鲁克 Surface Metrology System

点击查看下载NPFLEX 3D NPFLEX 三维表面测量系统3D 光学布鲁克 Surface Metrology System相关资料，进一步了解产品。

高效的三维表面信息测量

•             每次测量均可获得完整表面信息，并可用于多种分析目的

•             更容易获得更多的测量数据来帮助分析

垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节

•             干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率

•             工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障

测量数据的快速获取保证了测试准备时间

•             zei少的样品准备时间和测量准备时间

•             比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据

为客户量身订做zei合适的仪器配置

NPFLEX在基本配置的基础上，还有很多备选的配件和配置方案，满足不同客户的测量需求：

•  可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位，测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘，重复性好。

•  获得研发大奖的透过透明介质测量模块(Through Transmissive Media，TTM)模块,，结合环境测试腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可对样品进行加热或者冷却，进行原位测量。

•  可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。

纳米级分辨率的三维表面信息测量

大家对很多样品的表面性质感兴趣，但是要获得这些品性质，需要检测大量的样品表面定量信息。许多应用在航空航

天，汽车，医疗植入产业的大尺寸样品，往往只能借助于二维接触式检测工具进行表征，获得的只是一条线测量数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓，但是无法深入研究样品表面更精确的纹理细节信息。NPFLEX测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。

快速获取数据，保证测试迅速高效

NPFLEX三维测量系统，能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需全面掌握样品形状和表面形貌的前提下，对样品的不同表面进行测量。仅需要不到15秒的时间，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。自动对焦，光强调节以及其他配套软件功能，大大节约了测试分析时间，而且可以根据操作者的实验需求，量身定做zei优化的实验方案，而不影响数据的精度和质量。利用NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果，提供一站式的测量解决方案。

布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑

Bruker Nano Surfaces YouKu Channel— 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看zei新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！

NPFLEX LA——专业测量斜纹角的非接触三维表面分析系统

NPFlex 三维表面测量系统

为大尺寸工件精密加工提供准确测量

布鲁克的NPFlex 三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了zei灵活的非接触式的方案，可广泛用于医疗植入，航空航天、汽车或精密加工上的大型、异型工件的测量。

基于白光干涉原理，NPFlex 为用户提供超过接触式方法所能达到的更大数据量、更高分辨率和更好的重复性，使它成为独立或者互补型的测量方案。开放式的龙门设计克服了以往某些零件由于角度或取向造成的测量困难，现在NPFlex可实现超过300度的测量空间。NPFlex的超级灵活性、数据准确性和测试效率为精密加工行业提供了一种简单的方法，来实现其更苛刻的加工要求、更高效的加工工艺和更好的终端产品。

NPFLEX-LA

定量测量斜纹角

专门测量斜纹角的非接触三维表面分析手段——NPFLEX-LATM系统首次实现了对动态密封表面的真实斜纹角和表面织构进行重复性好且非接触的定量测量。基于NPFLEX平台的开放式龙门设计和非接触式白光干涉测量方法自身优势，NPFLEX-LA系统为用户提供可靠的斜纹角测量，同时具备与布鲁克光学轮廓仪其他型号一致的高性能表面三维测量与分析能力。该设备避免了以往其他测量方式冗长的被测件装夹与试验设置的不足，实现了密封表面宏观斜纹角和粗糙度的准确测量。

NPFLEX 三维表面测量系统

针对大样品设计的非接触测试分析系统

• 灵活测量大尺寸、特殊角度的样品
  

• 高效的三维表面信息测量

• 垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节

• 快速获取测量数据，测试过程迅速高效

NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量

布鲁克的NP FLEXFLEXFLEX TM 3D 表表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，

    　　布鲁克的NPFLEX^TM 3D 表表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供的技术性能超过了传统的接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验，NPFLEX^TM 是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高效快捷地获取从微观到宏观等不同方面的样品信息。

其灵活性表现在可用于测量征更大的面型和难角度样品

•             创新性的空间设计使得可测零件(样品)更大、形状

  NPFLEX 3D NPFLEX 三维表面测量系统3D 光学布鲁克 Surface Metrology System信息由布鲁克电子显微纳米分析仪器部为您提供，如您想了解更多关于NPFLEX 3D NPFLEX 三维表面测量系统3D 光学布鲁克 Surface Metrology System报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。