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完全自动化Contour Elite X三维光学剖面仪结合了无与伦比的测量能力,在业界最大的视野和高保真度彩色或单色成像的最高垂直分辨率。没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作人员方便和成像能力来解决如此广泛的生产计量应用。为满足最苛刻的研发、质量保证和过程质量控制需求而设计,Contour Elite X提供了最终的量具能力三维光学剖面解决方案。
额外的高保真彩色成像,独家侧照明和先进的算法,使等Contour Elite X用户访问额外的视角,无法提供的系统,单独提供计量学,以及提供可识别的表面特征细节的报告能力。这使用户能够根据颜色或灰度信息分割数据,以快速选择感兴趣的区域,并从这些特定区域收集关键的计量数据。将高端计量学与观察、识别和显示测量结果的能力结合起来,不仅对于理解数据,而且对于交流结果,都是非常重要的。
Contour Elite X系统拥有最好的组合横向和纵向分辨率超过行业的最大视野,有一个亚纳米到大于10毫米的垂直范围。它包括研发100奖的针灸XR测量技术,它提供了打破衍射极限在您的光学测量。此外,该系统还可以使用一个百万像素的相机来提高X-Y空间分辨率.从1倍到115倍的大视场和客观放大使得能够描述极其广泛的表面形状和纹理。
Contour Elite X型剖析器是一个非接触系统与一个大的舞台,使您的样本或部分完整和未损坏。我们的专利白光干涉测量(WLI)技术获得高度数据的亚纳米精度,是独立于放大使用。这意味着,即使在一毫米范围内采样超过一百万个数据点--平方图像区域,用户也能够在几秒钟内收集到高分辨率的高度数据。
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