您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
与SE-2000平台一样,SE-1000全光谱椭偏仪同时也是一个多功能测试平台,采用模块化的设计,可集成FTIR红外光谱测试模组、涡电流法非接触式或4PP接触式方块电阻测试模组、Mueller Matrix各项异性材料测试模组、Raman结晶率测试模组、电子迁移率表征模组、LBIC光诱导电流测试模组、反射干涉测试模组等多种功能,用户可根据测试需求合理选择搭配功能
产品特点
业界第yi家光谱型椭偏仪测试设备厂商
业界标准测试机构定标设备,参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准
针对研发及实验室测试设计,能降低测试成本
模块化设计,可综合监控样品光学和电学特性
定期免费升级SOPRA材料数据库
开放光学模型拟合分析过程,方便用户优化测试菜单
主要应用
主要技术指标
手动变角范围:45°-75°(最小步进5°)
光谱范围:245-990nm
最大样品尺寸: 200mm
厚度测量范围:0.01nm-50um(取决于样品类型
光伏行业:薄膜电池透明导电膜、非晶硅微晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、有机电池、染剂敏感太阳能电池
半导体行业:High-K、Low-K、金属、光刻工艺、半导体镀膜工艺、外延工艺
平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片
光电行业:光波导、减反膜、III-V族器件、MEMS、溶胶凝胶
测试速度:<1 sec (快速测试模式) <120 sec (高分辨率测试模式)
测量光谱分辨率:<0.5nm@633nm (高分辨率测试模式) <0.8nm@633nm (快速测试模式)
最大样品尺寸: 300mm
厚度测量范围:0.01nm-50um
厚度测试精度:0.02nm @120nm SiO2 on Si
折射率测试精度:0.002 @120nm SiO2 on Si
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片,SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片信息由北京亚科晨旭科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
布鲁克S2 PUMA Series Ⅱ能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)
布鲁克autoflex maX MALDI-TOF/TOF 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪
布鲁克VERTEX V80/80v傅立叶变换红外光谱仪
布鲁克台式核磁共振波谱仪Fourier 80
布鲁克D8 Advance 达芬奇 X射线衍射仪
QC3 高分辨率X射线衍射仪
布鲁克手持式便携拉曼光谱仪-BRAVO
Beacon®单细胞光导系统
群组论坛--光谱分析
您可能要找:布鲁克椭偏仪SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片价格SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台椭偏仪参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号