您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
IB-09060CIS™ 低温冷冻离子切片仪
易受热损伤的样品,也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长,有效地抑制了热损伤
产品特点:
带有样品冷却系统,对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
①通过液氮制冷,减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*
③冷却保持时间长,大大减少了热损伤。
④在装有液氮的情况下,也可以交换样品。
*zei大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。
产品规格
安装条件
*产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。
日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪,IB-09060CIS
日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
JSM-IT200扫描电子显微镜
群组论坛--扫描电镜之家
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号