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JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜(日本电子)

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日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。 传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室;欧洲各国;日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等;中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。中科院物理所是中国大陆的第一家用户,安装后仪器始终运行稳定,超高的分辨率和分析能力已获得大量高水平数据。

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