JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

• JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

• JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。

产品特点：

• 实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率

• JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。

• STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm

• 采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。

• ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器　※选配件

• ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。

• 强大的冷场发射电子枪HyperCF300

• 标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。

• 两种物镜极靴

• 为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。

• 丰富的选购件

• 能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。

• 大范围的加速电压设置

• 标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV到300kV，使用范围极广。

• 新开发的真空系统

• 新的排气系统达到了极高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，zei大限度地减轻了对样品的污染和损伤。

• 高稳定的镜筒和样品台

• 整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。

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产品规格：

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供，如您想了解更多关于JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。