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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。
产品特点:
实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm
采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达63pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。
ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件
ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。
强大的冷场发射电子枪HyperCF300
标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
两种物镜极靴
为了支持用户广泛的需求,研发了两种各具特点的物镜极靴。
丰富的选购件
能安装超大立体角EDS(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。
大范围的加速电压设置
标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV到300kV,使用范围极广。
新开发的真空系统
新的排气系统达到了极高的真空度,在原子尺度的图像观察和分析中,zei大限度地减轻了对样品的污染和损伤。
高稳定的镜筒和样品台
整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。
产品规格:
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜,JEM-ARM300F GRAND ARM
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则
JJG(教委) 12-1992 透射电子显微镜检定规程
JJG(地质) 1016-1990 透射电子显微镜检定规程
JB/T 5383-1991 透射电子显微镜技术条件
JB/T 9352-1999 透射电子显微镜 试验方法
ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则
GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析扫描电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法
JB/T 5584-1991 透射电子显微镜放大率测试方法
BS ISO 25498:2018 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
JB/T 5585-1991 透射电子显微镜分辨力测试方法
JB/T 5586-1991 透射电子显微镜分类和基本参数
DB31/T 315-2004 透射电子显微镜放大倍率校准方法
BS ISO 19012-3:2015 显微镜. 显微物镜的命名. 光谱透射率
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