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IDES是时间分辨透射电子显微镜(TEM)领域的领导者和先驱,专门研究脉冲激光和高速静电束消隐及偏转技术。IDES的产品在TEM的特殊空间分辨率的基础上增加了时间分辨功能,能够在非常快的时间尺度范围内进行新的应用和对样品进行动态研究。
■ JEM-2100 时间分辨电子显微镜
该设备是利用一个或多个激光器进行pump-探针实验而设计的用于研究样品中的瞬态现象。 用户可以直接用激光激发样品,紫外激光产生光电子探针脉冲,在成像、衍射、光谱或光谱成像模式下对样品进行探测。 该电镜非常通用,可以选择多种不同激光类型的光学配置来进行ps皮秒频闪观测、ns纳秒频闪观测、ns纳秒单发(SS) 和ns纳秒 “电影模式(MM)” 测量,及常规热电子模式。该电镜在JEM-2100Plus的基础上,引入激光束,指向阴极(电子源)和样品,激光光学系统为标准配置,各种激光为可选件。
■ Relativity Electrostatic subframing System
IDES RELATIVITY 静电分帧系统加大了电镜上相机的帧率,实现了前所未有的时间分辨率、数据容量和先进的自动能力。
■ Electrostatic Dose Modulator (EDM)
Electrostatic Dose Modulator (EDM) 是一种快速束流消隐/关闭系统,带有一个pre-sample静电偏转器,包括电子控制和软件控制。 配置EDM, 光束能够在50ns内开启或关闭,消隐/关闭速度100,000倍的提高立刻提高了快速曝光时间内所获取数据的清晰度。还可以在不影响成像条件下减小电子流明,控制辐照剂量。前沿电子产品和软件开启了如时间剂量构建、STEM同步等更先进的应用。
JEM-2100 时间分辨电子显微镜及相关附件,JEM-2100
JEM-2100 时间分辨电子显微镜及相关附件信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于JEM-2100 时间分辨电子显微镜及相关附件报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
JB/T 5383-1991 透射电子显微镜技术条件
ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析扫描电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
JJG(地质) 1016-1990 透射电子显微镜检定规程
JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则
JB/T 9352-1999 透射电子显微镜 试验方法
JJG(教委) 12-1992 透射电子显微镜检定规程
BS ISO 25498:2018 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则
GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
JB/T 5586-1991 透射电子显微镜分类和基本参数
YB/T 4676-2018 钢中析出相的分析 透射电子显微镜法
GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法
JB/T 5584-1991 透射电子显微镜放大率测试方法
GB/T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语
ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析电子显微镜 透射电子显微镜测定线状晶体表观生长方向的方法
BS ISO 19012-3:2015 显微镜. 显微物镜的命名. 光谱透射率
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