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Ultim Max TEM
用于纳米尺度分析和元素面分布的SDD能谱探测器。
在任何情况下,使用新型的中端80mm2传感器都能更接近样品,提供更多的X射线计数。结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。
0.2 - 0.6 srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中,在高至1000°C的温度下采集谱图
Xplore TEM
专门为120kV和200kV TEM的常规应用而设计的SDD能谱探测器。
使用新的 80 mm2 传感器,聚合物薄窗口和低噪音电子元器件 , 提供快速和准确的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立体
角
从Be到Cf的元素检测
可在200,000cps的计数率下进行定量分析
SATW窗口为广泛的应用提供了更大的便利性
Ultim Max TLE
我们TEM的旗舰款SDD能谱探测器,经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
这一性能是通过优化的晶体形状,100mm2大面积晶体,无窗结构,优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。
0.5 - 1.1srad的立体角
牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器 用于元素面分布,Ultim Max TLE
牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器 用于元素面分布信息由牛津仪器科技(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器 用于元素面分布报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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