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SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合,灵敏度比传统大面积SDD高15倍。
可对锂元素进行检测和成像
加速电压小于2kV时块状样品中的空间分辨率低于10nm
在低于1kV加速电压下对材料进行表征
与浸没式电镜相配合,可在高达30kV的加速电压下收集高质量的元素信息
Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。
Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱,晶体面积100mm2,经优化设计来尽可能提高灵敏度和空间分辨率。它采用跑道型结构设计,优化高分辨率场发射扫描电镜在低加速电压和短工作距离下工作时的成像和EDS性能,使用Ultim Extreme,EDS的空间分辨率接近扫描电镜的分辨率。
SEM-EDS联用时的高空间分辨率
场发射SEM中£10nm元素表征
表面科学
SEM中表面表征
低加速电压下的材料鉴别
低至1kV加速电压下的材料表征
快速准确的纳米表征
块状样品快速采集、实时数据处理
超轻元素敏感性
元素探测能力的新高度,如Li、N、O
牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器,Ultim Extreme
牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器信息由牛津仪器科技(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
牛津仪器 Symmetry EBSD探测器 微观分析仪器
牛津仪器 Symmetry EBSD探测器 以CMO为基础相机
牛津仪器 Symmetry EBSD探测器 新科学
牛津仪器 Symmetry EBSD易用探测器
牛津仪器 Symmetry EBSD探测器 CMOS的灵敏度
牛津仪器 Symmetry EBSD探测器 CMOS的速度
牛津仪器C-Nano+ EBSD探测器 适用材料常规分析
牛津仪器C-Nano+ EBSD探测器 适用精细应变分析
牛津仪器 EXTREME 能谱探测器 应用手册
IntroductionThere is increasing need for the micro-analyst to correctly determine chemical composition of regi
Understanding the cellular processes in tissue samples requires microscopy on the sub micrometre scale. Fluore
SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many materials and is being used increasingly to meet
The processing of aluminium sheet for use in aluminium can manufacture is a low cost high volume application.&
A high entropy alloy, Al8Co17Cr17Cu8Fe17Ni33, has been developed from an equiatomic AlCoCrCuFeNi alloy. Due to
The groundbreaking Symmetry CMOS-based EBSD detector, together with the powerful AZtec® software, is capable o
Additive Layer Manufacturing (ALM) is a continuously evolving method of manufacturing with new processes and w
Geological samples can be extremely challenging to analyse using EBSD, not only are they non-conductive, but m
机械及电学性能
纳米材料生长和表征
迈上技术革新之路,挑战显微分析极限;尽享科学研究之美,科研也是别有洞天 。牛津仪器期待您提供优秀的显微分析成果,一起来发现微观之美!参赛要求•参赛图片必须是使用牛津仪器设备完成的EDS或EBSD结果图片•参赛文件组成a)参赛图片, 要求为像素在512*512以上的JPG格式(允许使用Photoshop等图像软件适当美化)b)参赛图片相关的原始数据文件,如AZtec软件采集的数据文件包c)使用WORD文件陈述参赛项目: 包含根据图像意境命名的参赛作
Hi,大家好,我是牛津仪器小记者“小Q”,从今天开始小Q会采访我们牛津仪器的专家,聊一聊他们对相关领域的见解或经验,以期帮助大家更好地使用牛津仪器的各类产品哟!EDS技术近年来发展迅速,不断涌现的新硬件软件系统,不仅大大提高了分析速度也提供了更灵敏的分析精度。但是对于定量,人们通常会有这么一个疑问:我怎么知道我的结果是否可信呢?今天我们就来采访纳米分析部EDS产品经理,Simon Burgess 博士,看看他日常是怎么做的呢?小Q:Si
牛津仪器纳米分析部非常荣幸地宣布Ultim®Extreme探测器系统获得了知名的2019年女王奖。女王企业奖分为四类:国际贸易、创新、可持续发展和促进机遇(通过社会流动)。Extreme系列探测器此次获得的是创新类奖,这些奖项仅授予英国公司和产品,旨在表彰这些企业和产品领先的创新技术和持续获得商业成功的能力。一般来说,其中又以创新类奖最难获得,全球每年颁发女王创新奖不到50个。Ultim®Extreme探测器因其独特的设计获奖,经过多年的开发,该项设计能在
2018年全国电子显微学学术年会将于10月23-27日在成都市禧悦酒店召开。本届年会将设立材料科学与生命科学分会场,材料科学分会场包含:1.显微学理论、技术与仪器发展;2.原位电子显微学表征;3.能源、环境和信息等功能材料的微结构表征;4.结构材料及缺陷、界面、表面,相变与扩散;5.先进电镜技术在工业材料中的应用;6.扫描探针显微学分会场(STM/AFM等);7.扫描电子显微学(EBSD)。8.生命科学分会场;9.生物电镜技术分会场。本次年会将是了解电子显
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