布鲁克能量色散性能谱仪EDS, SEM/SEM-FIB/EPMA用

布鲁克新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列，探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。

第 6 代 EDS 提供硬件和软件技术，以实现最快、最可靠的结果：

节省时间 - 拥有细管径技术的新型探测器、大面积硅漂移探测器、可控制多个探测器以及具有高性能的脉冲处理器，更快地完成工作

节省工作量 - 电动马达控制探测器移动和迷你轻质的设计，让探测器使用起来更加轻松

获得更高的精度 - 最佳能量分辨率提供最高质量的谱图，非常适合用于精确分析

获得更棒的可靠性 - 世界上最全面的原子数据库确保最可靠的低能量峰值识别

获得更高的精度 - 最先进的定量算法、基于标样的定量方法和独特的有标样和无标样定量组合提供最高精度的定量结果

布鲁克 EDS 可与每一款电子显微镜适配的安装、并提供无与伦比的速度和精度，这使得布鲁克 EDS 为任何实验室提供了最强大的 EDS 系统。此系统包括光谱成像，使微纳米分析不再是一个挑战。

XFlash® 系列还为 TEM 和 STEM 提供优化解决方案，以及独特的XFlash® FlatQUAD，一种用于困难样品表征的探测器。

此外，EDS 可以与 EBSD、Micro-XRF 和 WDS 的无缝集成一款软件中，布鲁克的 ESPRIT 为任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了最全面的分析平台。

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