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CMI243是一款灵便易用的仪器,专为金属表面处理者设计,配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力,使其成为紧固件行业应用的理想工具。 采用基于相位电涡流技术,CMI243手持式测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。 Web: www.oiia.com.cn Email: sales@oiia.com.cn
误差 ±3% 分辨率 0.1um zei小曲率半径 1.2mm(凸);1.5mm(凹) zei小测量面积 φ2.5mm zei小基体厚度 0.35mm 显示 3位LCD数显 测量单位 um-mils可选 校准方式 精密两点校准 统计数据 平均值、标准偏差S、读数个数n(9,999个) zei大值max、zei小值min 接口 232串口 电源 1节9V电池 仪器尺寸 150x80x30mm 仪器重量 260g
便携式、无损测量各种金属镀层 精度高、稳定性好 测量精度可与X射线测厚仪媲美 可测量各种微型部件(φ2.5mm) 232接口,可连接打印机或电脑
便携金属镀层测厚仪,CMI243
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