奥谱天成OPTOSKY SM200 光学薄膜厚度测量仪

综合概述 

     SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等，其厚度最大测绘范围可以 达到1nm~250um。 

     SM200自动光学薄膜厚度测绘仪由测绘主机、测 绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成，核心器件 采用高分辨率、高灵敏度光谱仪结合奥谱天成独有的 算法技术，为用户提供的全新一代领先的自动光学薄 膜厚度测量仪。

产品特征 

 非接触式、非破坏性的测试系统；

 超长寿命光源，更高的发光效率； 

 高分辨率、高灵敏度光谱仪，测量结果更准确可靠； 

 软件界面直观，操作方便省时； 

 历史数据存储，帮助用户更好掌握结果； 

 桌面式分布设计，适用场景丰富； 

 维护成本低，保养方便；

应用领域 

     基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测绘，这几乎包含了所有的电介质和半导体材料，包括： 氧化硅、氮化层、类钻薄膜、多晶硅、光刻胶、高分子、聚亚酰胺、非晶硅等。 

 半导体镀膜：光刻胶、氧化物、淡化层、绝缘体上硅、晶片背面研磨;

 液晶显示：间隙厚度、聚酰亚胺、ITO 透明导电膜; 

 光学镀膜：硬涂层、抗反射层； 

 微电子系统：光刻胶、硅系膜状物、印刷电路板； 

 生物医学：医疗设备、Parylene

产品外观

奥谱天成OPTOSKY SM200 光学薄膜厚度测量仪信息由奥谱天成（厦门）光电股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于奥谱天成OPTOSKY SM200 光学薄膜厚度测量仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。