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CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。 Website: www.oiia.com.cn E-mail: sales@oiia.com.cn
主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统 zei多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,zei小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时,zei大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950 -样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 -zei大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm -Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时,152.4mm XY轴手动时,269.2mm -XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 -样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台 分析软件包:SmartLink FP软件包 -测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。 -基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 贵金属检测,如Au karat评价 材料和合金元素分析, 材料鉴别和分类检测 液体样品分析,如镀液中的金属元素含量 多达4个样品的光谱同时显示和比较 元素光谱定性分析 -调整和校正功能 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 -测量自动化功能 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot” 多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能 -样品台程控功能 设定测量点 连续多点测量 测量位置预览(图表显示) -统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zei大值、zei小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能 任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 -系统安全监测功能 Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST认证的标准片 全球服务及支持
XRF台式镀层测厚仪,CMI900
XRF台式镀层测厚仪信息由国鼎环科(北京)技术有限公司 Gooding technology(Beijing) Co.,Ltd.为您提供,如您想了解更多关于XRF台式镀层测厚仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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